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德国布鲁克 非接触光学轮廓仪ContourGT 3D
品牌:德国布鲁克
型号:ContourGT 3D
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基恩士 3D 轮廓测量仪 VR-6000 系列
品牌:日本基恩士
型号:VR-6000
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Nanosystem 3D非接触式轮廓仪
- 品牌:韩国Nano System
- 型号: NVF-2700
- 产地:韩国
NANOSYSTEM NVF-2700 3D光学表面分析仪通过的技术力对多样研究所有的表面提供优化解决方案
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DektakXT台阶仪,表面轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: DektakXT
- 产地:美国
精确 快速 操作简单
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KLA Zeta™-20 光学轮廓仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta™-20
- 产地:美国
Zeta™-20光学轮廓仪Zeta™-20是一个高度集成的光学轮廓显微镜,可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™ 技术,可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-20 3D显微镜支持研发和生产环境,具有多模光学器件、易于使用的软件和性价比高等优势。Zeta-20HR 提供专业的太阳能电池量测解决方案。产品说明Zeta-20台式光学轮廓仪是一款非接触式3D显微镜及表面形貌测量系统。该 3D 光学量测系统由已获得的 ZDot 技术及多模式光学组件提
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Bruker Contour Elite X 三维光学轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Contour Elite X
- 产地:德国
Contour Elite X 全自动、大样品台三维光学轮廓仪具有无与伦比的测量能力,可在业界最大视场范围内达到最高垂直分辨率,并拥有高保真彩色成像或单色成像功能。其所具有的非接触准确性、高效率、操作便利性和成像能力适用于各类生产计量应用,在同类产品中独占鳌头。自设计伊始即针对最苛刻的研发、质量保证和工艺质量控制需求,Contour Elite X 提供了具有计量能力的顶级三维光学轮廓分析解决方案。可靠光学测量,通知可量化的研发和QA/QC决定。真色、成像揭示以前隐藏的微观细节。柔韧、分期和固定,根据您的
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Bruker ContourSP 三维光学轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourSP
- 产地:德国
三维光学轮廓仪ContourSP专为测量PCB面板的每一层而设计,为半导体封装工业提供高性能、高可靠性和高通量的测量ContourSPContourSP 大面板计量系统融合了十余年封装光学表征专业技术,使高密度互连 PCB(HDI-PCB)基板的测量效率比上一代白光干涉(WLI)仪器增加了一倍以上。该系统专用于在制造过程中测量 PCB 面板的每一层,融入了一大批先进测量功能,大幅提升半导体封装行业的量产性能、便利性、可靠性和效率。具有计量功能的 ContourSP 采用简单易用的生产界面,通过用户自定义输
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布鲁克光学轮廓仪ContourX-200
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourX-200
- 产地:其它
ContourX-200光学轮廓仪融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。ContourX-200还配有业界先进的操作和分析软件Vision64。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能,可访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半导体,眼科,医疗设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。
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Mahr马尔 接触式轮廓测量仪器6269000
- 品牌:德国马尔
- 型号: 6269000
- 产地:德国
轮廓测量 精确、快速及 140 mm 测量路径 MarSurf CD 系列测量站站 在轮廓测试领域确立了新的标杆。更短的测量时间、灵活的应用和简单的操作意味着提高您的质量保证效率。 提高测量和更换速度 • 高速测轴和测量可缩短测量时间 • Z 轴全 CNC 功能,可自动运行 • 快速更换测头系统。 磁性接口,无需工具 – 无需重新校准 • 自动检测测杆,提高测量序列的速度并避免测量错误
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西班牙Sensofar 在线3D表面测量轮廓仪S mart&S onix
- 品牌:西班牙Sensofar
- 型号: S mart&S onix
- 产地:西班牙
S mart的重量约只有S neox的一半(6kg),加上紧凑的外观使的它在安装上有更多选择,例如可以直接在生产在线安装做分析等。一般来说,在生产的环境中通常都会有震动或有害物质污染等因素而不适合放置量测仪器,但S mart在开发时已经考虑这些因素,一体成形的设计使得它能承受外部污染或震动影响。
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基恩士 3D轮廓测量仪 VR-6000系列
- 品牌:日本基恩士
- 型号: VR-6000系列
- 产地:日本
基恩士3D轮廓测量仪VR-6000系列,相比上一代(VR-5000系列)有如下几点的升级: 1、新搭载电动旋转单元 上一代VR-5000系列扫描测量的范围有限,一次扫描一个面的3D数据,会产生测量死角。但是VR-6000新搭载了电动旋转单元,可以通过旋转样品,消除死角进行测量。且可在不切割样品的情况下再现截面形状,这一点是上一代的设备难以做到的,也是接触式测量仪极难完成的。 2、采用新HDR扫描算法 上一代VR-5000系列对于有光泽的样品、材料反光弱的样品不是很擅长,需要调节光量、喷显像剂等。新产品
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布鲁克 Bruker光学轮廓仪 ContourX-200
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourX-200
- 产地:德国
ContourX-200 光学轮廓仪提供了高级表征能力、可选定制配件、和使用方便三者的完美融合,是同类产品中最快、最准确、可重复性最高的非接触式三维表面计量系统。该计量系统占地面积小,采用更大视场、5MP 数码摄像头和全新电动 XY 工作台,具有卓越的二维/三维高分辨测量能力。ContourX-200 拥有出色的 Z 轴分辨率和精确度,具备布鲁克专有白光干涉(WLI)技术广受业界认可的所有优势,而且不存在传统共聚焦显微镜和同类普通光学轮廓仪的局限性。
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纳米表面轮廓仪
- 品牌:上海昊量
- 型号: IMOS
- 产地:徐汇区
IMOS纳米表面轮廓仪实现了精确、定量、iso兼容、非接触式表面测量和表征微和纳米尺度的表面特征,在短短几秒钟内可捕获多达200万个数据点。选择正确的光学轮廓仪系统取决于您的应用程序的要求,包括速度、精度、垂直范围、自动化和灵活性。
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德国T&S TS-X 轮廓测试仪
- 品牌:德国T&S
- 型号: TS-X
- 产地:德国
仪器详情TS-X 轮廓测试仪,X轴承载工件,Z轴进行轮廓扫描,数据采集和控制都基于先进的数字技术。机械基础是很高质量的花岗岩使用基本元素不需要我们的系统的后续和复杂的错误补偿。稳定性好,使用寿命长。德国T&S TS-X 轮廓测试仪产品简介:TS轮廓测量仪GS / GM-X轮廓测量仪TS-X轮廓测量仪CV120轮廓测量仪CV300轮廓测量仪产品线:对中夹具 UZ系列外圆对中夹具 AZ系列对中水平放置台 KZT系列对中夹具 ZS系列综合支架 WSE系列角度调整卡 WSF系列棱柱支撑 WP/WPS系列德
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日本三丰轮廓仪
- 品牌:日本三丰
- 型号: CV-1000/CV-2000
- 产地:日本
【产品名称】 日本三丰CV-1000/CV-2000轮廓仪 特点 大幅度提高了驱动速度 (X 轴:80mm/s, Z2 轴:20mm/s),近一步降低了总测量时间。为了在一定时段内维持仪器的直线度规格,三丰公司采用了具有的耐摩擦 性及稳定性的高硬度陶瓷导轨。大量的外周设备选件支持 CNC 模式,从 而可以很容易实现 CNC 测量。驱动装置 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 中集成了高 精度线性编码器 (Z2 轴为 ABS 型),从而提 高了在垂
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CV-3100S4日本三丰轮廓仪 轮廓测量仪
- 品牌:日本三丰
- 型号: CV-3100S4/4100S4
- 产地:日本
【产品名称】 日本三丰CV-3100/4100轮廓仪 轮廓测量仪CV-3100/4100系列 ContracerCV-3100/4100为高精度轮廓测量仪,通用行业领域中,它率先在Z轴上安装了数显标 技术参数:
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日本三丰超级轮廓测量仪
- 品牌:日本三丰
- 型号: CV-3000CNC/CV-4000CNC
- 产地:日本
【产品名称】 日本三丰CV-3000CNC/CV-4000CNC超级轮廓测量仪 型号 CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC
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三维表面形貌仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap 1000WLI
- 产地:美国
仪器简介: 提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。
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双模式表面三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-D(0)
- 产地:美国
仪器简介:NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面4、薄膜和厚膜的台阶高度测量5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量6、微电子表面分析和MEMS表征主要特点: 包含接触式和非接触式两种扫描方式 高精度&
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三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-D
- 产地:美国
仪器简介: NanoMap-D扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以 用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。 1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等 2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等 3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面 4、薄膜和厚膜的台阶高度测量 5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量
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TRACEiT® 便携式表面三维形貌仪
- 品牌:德国INNOWEP
- 型号: TRACEiT®
- 产地:德国
TRACEIT便携式三维形貌仪 我公司设计了世界上第一台便携式光学三维形貌仪,10秒钟即可精确测量材料表面的三维轮廓,粗糙度Ra/Rq/Rz,孔隙率,有效接触面积,并同时原位记录材料表面的视觉图像。我公司有两款便携式三维形貌仪(TRACEiT-MICRO和TRACEiT-MIDI),其快速,便捷,准确的测量方法几乎可以在任何地点进行测量,广泛应用于产品的质量检验和研发中。 应用领域 对文物清洗效果
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纳米级三维测量仪
- 品牌:德国Klocke Nanotechnik
- 型号: KLOCKE
- 产地:德国
仪器简介: 德国Klocke Nanotechnik公司生产的纳米级三维测量仪(3D Nanofinger)俗称纳米三坐标,是一种实用的纳米精度坐标和形貌综合测量设备。由台架、控制系统、探头、针尖组成. 可测量样品外形尺寸,表面轮廓、粗糙度等,并可与超精密微加工、微组装系统组合,进行在线检测、质量控制等。系统拥有5个自由度,可以根据样品设定测量路径,测量范围达到厘米级甚至更大。现已广泛应用于超精密机械加工、MEMS器件、半导体微电子加工、光学、分子生物学和精密工程。技术参数:设备主要参数:
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usurf explorer光学轮廓仪
- 品牌:德国Nanofocus
- 型号: usurf explorer
- 产地:德国
产品介绍 μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。 NanoFocus μsurf explorer机台功能齐
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usurf custom光学轮廓仪
- 品牌:德国Nanofocus
- 型号: usurf custom
- 产地:德国
产品介绍 usurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。 NanoFocus μsurf custom三维共聚焦表
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太阳能电池3D显微镜
- 品牌:德国Nanofocus
- 型号: μsurf solar
- 产地:德国
产品介绍usurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间内(约几秒)精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。NanoFocus usurf solar太阳能电池3D显微镜
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移动式3D测量系统
- 品牌:德国Nanofocus
- 型号: usurf mobile
- 产地:德国
n产品介绍μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。NanoFocus μsurf mobile移动式3D测量系
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激光扫描轮廓仪
- 品牌:德国Nanofocus
- 型号: uscan custom
- 产地:德国
n产品介绍μscan系列机台采用模块化设计,特点是快速测量、不接触、不破坏、自动化。主要应用于材料表面的三维轮廓测量,粗糙度测量,宽度,高度,角度,半径、粗糙度等二维、三维数据分析。能直接测量较大面积的样品,而不用通过拼接。μScan的中心部件扫描模块(x/y方向样品扫描)可以和不同的传感器(Z方向测量)连用,如Confocal point sensor(CF)、Autofocus sensor(AF)、Chromatic white light sensor(CLA)、Holographic senso
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汽车气缸专用非接触三维表面测量系统
- 品牌:德国Nanofocus
- 型号: NanoFocus usurf cylinder
- 产地:德国
产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。德国μsurf cylinder机台是世界上**的一款专为测量桶状内壁设计的非接触式
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SmartWLI大视场便携式白光干涉三维轮廓仪
- 品牌:德国GBS
- 型号: SmartWLI PortableLA
- 产地:德国
SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术技术特点:5cm直径视场(光斑),800μm垂直测量高度,无需拼接即可在短时间内(通常1分钟)完成大区域面积的三维形貌(轮廓)的测量任务!SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪,专用于车身、印刷滚筒、太阳能电池等工业产品的表面形貌测量与分析。仪器采用白光干涉测量原理,操作简单, 可轻放于样品表面执行测量任务。特有的三脚螺纹支架结构,便于测量弯曲表面。系统内置三束激光校准系统,便于迅速锁定测量区域。外接笔记本电脑完成
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SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪
- 品牌:德国GBS
- 型号: SmartWLI Basic
- 产地:德国
SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪--非接触三维表面形貌测量技术 白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。 德国SmartWLI标准型白光干涉三维轮廓仪结构紧凑,精度高,测速快,满足不同领域用户的测量需求,广泛应用于科学研究、质量管理与工艺控制。 德国SmartWLI标准型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点: 1.结构紧凑 2.精度高 3.测速快 4.稳定耐用 5.经济实惠MountainsMAP表面分析软件与三维可视化测量报告作为一款高品质的
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SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪
- 品牌:德国GBS
- 型号: SmartWLI Extended
- 产地:德国
SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪拥有纳米级测试精度,外接PC或笔记本电脑进行实时数据分析。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪功能全面,轻松应对各种测试环境。电动XY双轴样品台匹配自动拼接程序,应对大面积测试任务。典型应用包括科学研究、质量控制和工艺管理。德国GBS公司SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点: 通用型 精度
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SmartWLI 便携式白光干涉三维轮廓仪
- 品牌:德国GBS
- 型号: SmartWLI Portable
- 产地:德国
SmartWLI便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI - 便携式白光干涉三维轮廓仪,专用于大尺寸部件表面形貌测量与分析。仪器操作简单,测量时放置于样品表面;独有的三脚支架结构,方便曲面部件测量;外接笔记本电脑完成数据分析,测量结果立体直观呈现。SmartWLI - 便携式白光干涉三维轮廓仪外形紧凑、结构稳固,轻松应对多种测量环境;测速快,精度高,为工业用户提供zuiyou化的产品表面形
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SmartWLI 传统二维光学显微镜三维轮廓/形貌扫描升级方案
- 品牌:德国GBS
- 型号: SmartWLI - Microscope
- 产地:德国
SmartWLI传统光学显微镜升级技术 亚纳米级分辨率白光干涉技术与三维表面形貌测量传统二维光学显微镜可以升级为三维表面形貌测量装置,极大提升应用效能。图1.干涉物镜通过接合器安装于传统光学显微镜,升级后的显微镜具备高分辨三维表面形貌测量功能显微镜的重要性不只在于研究与记录,更在于产品质量监测与样品表面分析。光学显微镜已经成为许多实验室的标配设备。对于大多数样品来说,传统二维显微镜不足以获得其表面所有形貌细节。因此,三维表面形貌测量技术正逐渐成为一种重要的表征手段。 图2.
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SmartWLI-Double Z-axis双轴三维形貌轮廓仪
- 品牌:德国GBS
- 型号: SmartWLI-Prime Double Z-axis
- 产地:德国
SmartWLI-Prime双轴三维形貌轮廓仪配备0.1nm高分辨率的小量程Z轴和小于100nm分辨率的大量程Z轴 2015年11月,德国WinWinTec公司再次向市场推出了一款由我公司代理的SmartWLI品牌的三维相貌轮廓仪,该产品将两种Z轴方向的移动控制模式整合在一起,是两种模式一体化,可以实现两种Z轴移动模式的自由切换,测量范围从nm水平到mm水平,实现纳米分辨率到亚微米分辨率,可测量不同类型的产品,适用于大轮廓形貌到微小形貌的多种应用需求。v产品特点 1.两种Z轴移动控制模式,压电陶瓷马达
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smartWLI Prime白光干涉三维轮廓仪
- 品牌:德国GBS
- 型号: smartWLI Prime
- 产地:德国
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Zygo 3D光学轮廓仪NewView™ 9000
- 品牌:美国Zygo
- 型号: ZYGO NewView™ 9000
- 产地:美国
NewView™ 9000 3D光学轮廓仪提供了强大、多功能的非接触式光学表面分析。它可以简单和快速地测量各种表面类型,包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯式的表面。所有的测量都是无损、快速、无需样品制备的。 ZYGO相干扫描干涉技术(CSI)是系统的核心技术,在所有放大倍数下实现亚纳米的精度,并且能够快速准确的测试各种样品表面,为客户提供高投资回报率的体验。
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西班牙Sensofar 5轴全3D光学轮廓仪S neox Five Axis
- 品牌:西班牙Sensofar
- 型号: S neox Five Axis
- 产地:西班牙
此款S neox Five Axis 3D光学轮廓仪结合了高精度旋转模块和S neox 3D光学轮廓仪的先进检测和分析功能在指定的位置上实现全自动地3D表面测量,并结合在一起,完成全表面的3D立体测量。S neox 3D测量技术涵盖了广泛的尺度,包括轮廓变化(多焦面叠加技术)、亚纳米粗糙度(干涉测量技术)或需要更高横向分辨率以及垂直分辨率(共聚焦技术)的临界尺寸。
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二手 东京精密 1710SD3 轮廓度仪
- 品牌:东京精密
- 型号: 1710SD3
- 产地:日本
东京精密轮廓形状测量机1700D实现轮廓检出器高精度化。用模拟检出器,超越数控的高精度,实现更高等级的精度。另外,DX3系列因为作为省空间设计,能有效利用测量室。简单评价通用零部件的轮廓形状用投影机和工具显微镜评价的零部件的轮廓形状能在短时间内正确的测量出来。还有,测量结果可以直接转换成检查成绩书。 ■采用新型线形马达驱动部(申请中)能达到世界Z高水平的测量速度和低振动,实现更加稳定的高倍率测量。而且,国为是构造简单的非接触式驱动,所以能长期稳定的使用。 ■使生产性大幅度提高的高速测量轮廓测量Z大20mm/s, 移动速度 Z大60mm/s测量效率 Z大提高10倍
- 轮廓仪
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