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飞纳（Phenom）源自 FEI，诞生于荷兰“发明之城”埃因霍温，以“任何人都可用的扫描电镜”理念享誉全 球，现已发展成为台式扫描电镜领域的领先品牌。始终致力于让扫描电镜测试更简单、更高效，是飞纳不变的初心。
2026 年，飞纳电镜迎来第七代产品革新，为中国 2500+ 用户带来更智能、更高效、更可靠的显微分析体验。覆盖数百所高校、中科院等科研院所、政府机构，以及新能源、生命科学等多个工业领域。其应用研究方向广泛，涵盖金属与合金、电池、地质与考古、高分子材料、静电纺丝、陶瓷与复合材料、生物医学、微生物等多个前沿与交叉学科。
同时，飞纳电镜支持拓展 EBL 功能，自主编程功能，原位拉伸/压缩功能，原位加热/冷冻功能，样品真空转移等，亦可进行定制化。
制样简单 无需喷金即可观察不导电样品
01 装样 非 Phenom XL 系列 Phenom XL 系列 非 Phenom XL 系列 抽真空 15 秒 02 载样 Phenom XL 系列 抽真空 20 秒 03 成像仅三步即可获得 高质量图像 从光镜导航快速切换至 SEM 图像
Part 01 台式场发射扫描电镜
飞纳台式场发射扫描电镜采用完全防震设计，在紧凑的台式机身上实现接近大型场发射电镜的成像性能。其卓越的低电压成像能力有效降低电子束对样品的损伤与穿透，最大程度还原样品的真实表面形貌。 在延续电镜与能谱一体化设计的基础上，系统进一步升级快速面扫描功能，可即时呈现元素分布；配合实时能谱分析，实现成分信息的同步获取，显著提升检测效率与分析可靠性。
产品特点 型号推荐（点击图片即可查看详细信息） 左右滑动查看更多
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Part 02
CeB6 灯丝扫描电镜
全新一代 CeB? 晶体灯丝扫描电镜实现关键性能突破，首次将单根灯丝寿命提升至 3000 小时，使灯丝更换周期由平均 3 年延长至约 5 年，显著降低维护频率与使用成本。
飞纳电镜采用台式一体化设计，具备完全防震能力，对安装环境要求低。操作流程高度简化，适配不同经验层级的用户，仅需约 30 分钟培训即可独立上手。同时，系统支持多种特色功能扩展，满足科研与工业应用的多样化需求。
产品特点
Part 03
AI 智能化扫描电镜
Phenom AI 智能扫描电镜，支持全流程自动成像和自由编程（PPI）功能（适配所有飞纳型号），为微观世界的探索带来了前所未有的自由度和无限可能。
产品特点
Part 04
ParticleX 全自动扫描电镜
ParticleX 基于扫描电镜与能谱分析技术，融合自动化控制系统与高性能数据库平台，实现杂质颗粒的全自动识别、成分分析及分类统计。系统可在无人干预条件下完成从检测到数据输出的完整流程，为研发与生产过程提供快速、准确且可追溯的定量数据支持，显著提升分析效率与质量管控水平。
Part 05
刑侦专用扫描电镜
3
icspi 原子力显微镜
icspi 是一家专注于扫描探针显微技术的加拿大高科技公司，在原子力显微镜系统设计、探针控制与纳米级表征技术方面拥有深厚的技术积累。其 AFM 产品以高稳定性、高重复性及灵活的模块化架构著称，广泛应用于半导体器件表征、薄膜与纳米材料研究、精密表面形貌分析等领域。
型号推荐
02 复纳科技与加拿大 ICSPI 原子力显微镜达成战略合作 |
Part 07
SEM 样品制备-离子研磨仪
SEMPREP SMART 配备了高能量和可选的低能量氩离子枪。用于扫描电子显微镜（SEM）和电子背散射衍射（EBSD）样品的最终加工和清洁。离子加工可以改进和清洁机械抛光的 SEM 样品，并为 EBSD 分析制备无损表面。该设备还适用于快速截面加工。为您制备高精度和高质量的样品，例如在半导体测试或锂离子电池隔膜的截面检查中均能实现出色的效果。
产品特点
应用案例｜电子器件失效分析
在对焊接部位的焊接情况进行分析时，需要观测该部位剖面的合金相分布情况，此时需要用到截面切削的制样设备--离子研磨仪，进行无应力样品切削制备后，使用飞纳电镜进一步分析焊接情况。
1,000X
(Mix模式，离子研磨后)
3,000X
(Mix 模式，离子研磨后)
进一步结合 EDS 能谱面扫分析可知：银-锡膏和铜面结合，界面有铜-锡为主合金化晶粒生长，铜引脚有镀镍层，并在内部发现有大量的铁富集相夹杂，近铜界面发现有气孔存在。
焊锡截面 EDS 能谱面扫结果
使用 SEMPREP SMART 处理后的 SEM 图：
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复纳科技产品
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