仪器网(yiqi.com)欢迎您!

| 注册2 登录
网站首页-资讯-专题- 微头条-话题-产品- 品牌库-搜索-供应商- 展会-招标-采购- 社区-知识-技术-资料库-方案-产品库- 视频

技术中心

当前位置:仪器网>技术中心> 应用方案> 正文

匈牙利离子研磨/抛光仪:SEM/EBSD 制样的最佳选择

来源:复纳科学仪器(上海)有限公司 更新时间:2025-04-09 18:30:14 阅读量:99
导读:离子加工可以改进和清洁机械抛光的 SEM 样品,并为 EBSD 分析制备无损表面。

01


产品名称

Technoorg Linda Technoorg Linda 新品发布,引领精密制样技术新高度

02

离子研磨仪助力 SEM 观测更真实的样品表面

03

这就是你一直在寻找的理想制样设备 | 离子研磨仪



参与评论

全部评论(0条)

相关产品推荐(★较多用户关注☆)
你可能还想看
  • 技术
  • 资讯
  • 百科
  • 应用
  • Technoorg 离子研磨抛光仪SEMPREP SMART特点
    它以稳定的离子源、智能工艺参数管理和低损伤加工能力著称,能在不同材料体系上实现高一致性的表面准备,提升后续表征的再现性与可靠性。设备采用模块化设计,易于升级与维护,配套软件支持离线工艺库、批量样品参数化管理以及全参数日志记录,适合SEM、EBSD、TEM薄膜与界面分析等工作流程。
    2025-12-1246阅读
  • Technoorg 离子研磨抛光仪SEMPREP SMART参数
    通过可编程的离子束抛光、智能工艺曲线与全局诊断,它能够在不损伤样品基底结构的前提下实现均匀、低损伤的截面制备,提升后续分析的重复性与可比性。
    2025-12-1249阅读
  • Technoorg 离子研磨抛光仪SEMPREP SMART应用领域
    作为离子研磨抛光仪领域的领先设备之一,Technoorg的SEMPREP SMART离子研磨抛光仪因其高效、精确的表面处理能力而广泛应用于各类科研实验室、工业生产线以及高端制造领域。本文将详细介绍SEMPREP SMART离子研磨抛光仪的技术特点、应用领域以及常见问题,以帮助从事相关领域工作的专业人员全面了解该设备。
    2025-12-1270阅读
  • Technoorg Linda离子研磨抛光仪SEMPREP SMART特点
    通过智能化工艺库、可编程路径以及多型号覆盖,帮助实验室和产线快速得到可重复的表面基底,为后续显微表征和断层分析提供稳定基准。
    2025-12-1251阅读
  • Technoorg Linda离子研磨抛光仪SEMPREP SMART参数
    该系列以高稳定性离子源、可重复的工艺轨迹、以及与之配套的软件自动化管理著称,帮助用户获得清晰、平整的截面与均匀的表面,并实现过程追溯和数据闭环。
    2025-12-1259阅读
  • 查看更多
  • 二次离子质谱仪的制样
    在使用SIMS进行分析前,制样过程显得尤为关键,因为样品的制备质量直接影响分析结果的准确性与可靠性。本文将详细探讨二次离子质谱仪的制样方法,介绍如何通过优化制样过程来提高分析结果的质量,为科学研究提供的数据支持。
    2025-10-21102阅读 二次离子质谱仪
  • 二次飞行离子质谱仪制样
    通过对样品表面的离子轰击,SIMS能够获得深入的元素和分子信息。本文将介绍二次飞行离子质谱仪的制样过程,以及如何通过合适的制样方法,确保测试结果的准确性和可靠性。
    2025-10-2190阅读 二次离子质谱仪
  • 透射电镜制样
    透射电镜全称透射电子显微镜,是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜,是材料科学研究的重要手段,能提供极微细材料的组织结构、晶体结构和化学成分等方面的信息。
    2025-10-171882阅读 透射电镜
  • 透射电镜制样
    透射电镜,全称透射电子显微镜。透射电镜的应用,已将静止的形态学观察与动态的功能研究相结合。透射电镜技术的发展不仅表现在仪器本身性能的高度完善和种类的增多,而且还反映在与其相应的各种样品制备和应用技术。
    2025-10-212492阅读 透射电镜
  • icp-oes制样
    ICP-OES广泛应用于环境监测、食品安全、材料检测等领域,其高效、准确、同时可以进行多元素同时测定的优势,使得它在分析检测中占有重要地位。而制样过程则是ICP-OES分析中至关重要的一步,合理的制样可以大大提高分析结果的精度。本篇文章将深入探讨ICP-OES制样的重要性,分析制样过程中的关键步骤和注意事项,帮助读者更好地理解如何优化这一过程,从而提高ICP-OES分析的质量。
    2025-10-23130阅读 ICP-OES/ICP-AES
  • 查看更多
版权与免责声明

①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。

②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。

③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。

④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi

热点文章
压电纳米发电机赋能柔性电子
BNCC精准诊断尼帕病毒:质控品+试剂盒一体化解决方案
亚纳米分辨率 x 100Hz 高速率,Dhyana 95助力光谱偏振测量技术创新
辐射x,γ剂量测量仪现场测量流程规避5大新手操作误区
电压放大器如何成为超声影像的“超清引擎”
低频阻抗分析仪:原理、应用与前沿技术
老化房设备的开关电源应该怎样节能
SECM 应用 | 颠覆认知-破解单晶铂电极的 “蝴蝶峰之谜”
徕卡工业课堂 | 紫外成像应用分享
一次进样,同时搞定靶向 + 非靶向 代谢组学!
近期话题
相关产品

在线留言

上传文档或图片,大小不超过10M
换一张?
取消