通过一系列功能降低人造伪影,如BHR射束硬化降低,BHC射束硬化矫正,降低环形伪影,降低体素噪音等
清晰的目视错误识别
兼容VOLUME GRAPHICS软件
德国YXLON 定制化的标准X射线检测系统CHEETAH EVO,专为封装检测、半导体及实验室应用量身定制
- 计算机断层扫描和自动化检测的下一阶段
- 大尺寸平板探测器实现极 致灵活性
- 同级最 好的micro3Dslice平面层析扫描,及FF CT软件
- 为敏感部件及材料设定的放射模式
- 高承载能力 (< 20 kg)
- 可根据客户需求优化配置
封装检测: 小器件检测, 高质量表现。
表面贴装器件通常尺寸很小并且紧贴在被设计的区域上。为了提供最 准确和可重复的检测结果,检测系统不仅需要确保高质量的表现和精度,同时还要配置高动态的图像增强滤镜功能。
全新的 Cheetah EVO 专为检测SMT器件提供最 正确的优化硬件,甚至更多其他专业配置:
大尺寸平板探测器 ORYX 1616
- 扩展的视场尺寸 (1280 x 1280 像素矩阵), 比过往型号增加尺寸达50%
- 得益于自动检测流程,有更好的概览效果和快速工作流程
- 优化的电路设计,确保高速和稳定的 24/7 工作时长
- 得益于辐射抗性,探测器具有更高的工作寿命
最 好的平面层析扫描 (micro3Dslice)
- 精细的 3D 图像效果,可帮助进行快速简便的失效分析
- 适用检测大尺寸印刷电路板(PCB)
- 在层级水平上输出结果
- 对大区域进行无损检测
- 与显微剖切相比大幅缩减成本
- 轻松快速地提供可靠的无效焊接自动分析结果
集成于生产线中
- 通过YXLON ProLoop与在线 AOI / AXI 检测系统直接通讯
大重量承载能力*
- 增强加固的机械部件和样品承载台可以承载至高20公斤的样品
- 节约时间: 同时检测多个样品
其他专业配置
- 兼容Volume Graphics软件
应用
- PCBS
- SMT 和 PTH 装配件
- IGBTs
半导体检测: 最 小管电压实现最 大检测精度
电子部件,半导体装置是电子系统的主要核心组 成。由于它们排列紧密和其本身的密度特性,检测它们状态的过程中需要最 高的精度,但要维持较低
的管功率和管电压水平。 空洞计算,包含多个区域的空洞计算,需要精确并可重复的检测程序。
全新的 CHEETAH EVO 提供优质的检测结果,并维持低水平的管功率和管电压,甚至更多其他专业配置:
高灵敏度探测器及缩减放射剂量
- 高灵敏度的探测器能够缩减检测的放射剂量
- 通过可选的缩减放射工具,用于检测敏感部件的放射率能够额外缩减,例如使用滤镜和准直仪
- 优化的电路设计,确保高速和稳定的 24/7 工作时长
- 得益于辐射抗性,探测器具有更高的工作寿命
识别高精度的细节呈现
- 操作员能够在一个完整的图像链中观察最 佳的细节呈现
自动缺陷检测
- 在FGUI界面中整合的缺陷检测(焊锡, 空洞)
- PROINSIGHT (开发及整合个人算法成为可能)
其他专业配置
- 兼容VOLUME GRAPHICS软件
- 更高、更稳定的部件配置
应用
- 晶圆检测
- 整体连接回路的三维图片
- 微焊锡
- 传感器
- MEMS 和 MOEMS
- TSV
实验室检测: 为精确分析打造的前沿技术
在实验室的研究和开发过程中检测电子部件是一件很复杂的事情,需要最 大范围的特征表现和最 先进的技术。计算机断层扫描在对微小部件的细节分析中必不可少,通常会被用于电池、连接器及医疗器械的开发和研究。
全新的 CHEETAH EVO 提供极 致的图像精度和最高的工业CT重构细节,甚至更多其他专业配置:
超常的计算机断层扫描(CT)质量
- 全新的 ORYX 1616 探测器确保最高质量的CT扫描体素
- 出色的对比度信噪比
- 高灵敏度探测器
由YXLON FF CT 软件完成信息可视化
- FGUI 用户交互界面中呈现完整的工作流程
- 真实生动的可视化图像,由单独的三维电影级渲染软件呈现,以及一套预设的转换功能(TF)
- 平面层析扫描的可视化结果等同于高质量CT扫描结果的体素,能够呈现更为复杂的样品内部结构
其他专业配置
- ORYX 1616 新探测器:
· 高处理速度
· 始终如一的图片质量,得益于稳定的探测器工作温度
· 放射不影响部件寿命 (辐射抗性)
应用
- 电池
- 接头
- 不易观察的电子部件
- 医用材料
- 军 用及航天电子
- 产品分类
- 品牌分类
- 光刻机/3D打印机/电子束直写仪
- 镀膜沉积系统
- 离子刻蚀与沉积系统
- 匀胶涂覆系统
- 半导体辅助工艺/光刻胶
- 半导体微纳检测仪
- 实验检测仪器
- 太阳能检测仪
- 紫外线UV光清洗/等离子清洗
- 晶圆贴片/贴膜/UV解胶机/晶圆清洗机
- (荷兰)荷兰TSST
- (英国)英国Durham Magneto Optic
- (德国)德国Finetech
- (日本)日本AND
- (日本)日本Tohuko
- (瑞典)瑞典Mycronic
- (日本)日本理音
- (美国)美国KLA
- (美国)美国D&S
- (瑞士)瑞士Swisslitho AG
- (德国)德国MBE-Komponenten
- (美国)美国RTI
- (英国)英国牛津真空
- (日本)日本电子
- (德国)德国UniTemp
- (美国)美国Nanovea
- (美国)美国德龙
- (日本)日本尼康
- (美国)湖岸LakeShore
- (美国)美国SONIX
- (德国)德国YXLON
- (美国)美国OAI
- (美国)美国阿兹特克
- (美国)美国Royce
- (美国)美国OGP
- (美国)美国相干
- (深圳)杰普特
- (美国)美国Filmetrics
- (美国)美国Thorlabs
- (美国)美国nanoArch
- (英国)英国Quorum
- (美国)美国Anasazi
- (美国)美国Montana Instruments
- (芬兰)芬兰Picosun
- (土耳其)土耳其ADLEMA
- (苏州)苏州纽迈
- (法国)法国Alyxan
- (英国)英国NanoBeam
- (德国)德国YXLON
- (德国)德国neaspec
- (瑞典)瑞典NanOsc
- (德国)德国Sentech
- (德国)德国Attocube Systems
- (东莞)庆达VIPUV
- (英国)英国HHV
- (德国)德国耐驰
- (英国)NanoMagnetics
- (法国)法国Plassys
- (美国)美国Associated Research
- (日本)日立
- (英国)牛津仪器
- (德国)德国克吕士
- (美国)美国SCIEX
- (美国)美国Denton Vacuum
- (日本)日本SEN
- (美国)美国海马
- (德国)德国iplas
- (美国)美国Jelight
- (美国)美国Sinton Instruments
- (美国)美国Nano-Master
- (美国)美国novascan
- (美国)美国Neocera
- (美国)美国Trion
- (美国)美国UVOCS
- (成都)中科院
- (台北)台湾正恩科技
- (比利时)比利时宝镭泽
- (德国)德国Allresist
- (瑞士)瑞士Sawatec
- (德国)德国Diener
- (美国)美国AZ technology
- (美国)美国劳瑞尔
- (美国)美国Uvitron
- (英国)英国EMS
- (美国)美国MicroChem
- (德国)德国Optosol
- (深圳)深圳一正
- (德国)德国FS Bondtec
- (美国)美国Newport
- (英国)英国MML
- (美国)美国Nisene
- (美国)美国VTI
- (美国)美国FEI
- (美国)美国RKD
- (德国)德国PVA TePla
- (日本)日本理学
- (英国)英国AML
- (美国)美国PI
- (日本)富士
- (日本)日本Advance Riko
- (美国)美国Sonoplot
- (香港)托普斯
- (美国)美国Quantum Design
- (美国)美国泰德派勒
- (丹麦)丹麦NIL TECHNOLOGY
- (日本)日本RIBM
- (美国)美国SCS
- (瑞典)瑞典Obducat
- (德国)德国布鲁克
- (韩国)韩国ATI
- (德国)德国海德堡
- (日本)日本伊领科思
- (美国)赛默飞世尔
- (西班牙)西班牙Mecwins
- (德国)德国纳糯
- (德国)徕卡生物系统
- (美国)美国泰克
- (美国)美国Harrick
- (德国)德国SUSS MicroTec
- (日本)日本基恩士
- (瑞士)瑞士nanosurf
- (德国)德国ParcanNano
- (德国)德国蔡司
- (奥地利)奥地利EVG
- (美国)美国MMR
- (英国)英国牛津
- (德国)德国Raith
- (日本)日本 Ulvac
- (韩国)韩国ECOPIA
- (德国)凯斯安KSI
- (德国)德国Eulitha
- (苏州)苏州纳维科技
- (新竹)台湾智果整合
- (德国)德国Nanoscribe
- (俄罗斯)俄罗斯Optosystem
- (法国)法国Annealsys
- (德国)德国Klocke Nanotechnik
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