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Kurabo RX400 在线红外线油膜测厚仪
品牌:日本仓纺
型号:RX400
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仓纺 RX-350扩散反射型红外测厚仪
品牌:日本仓纺
型号:RX-350
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仓纺 RX4000台式/在线红外测厚仪
品牌:日本仓纺
型号:RX4000
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Kurabo在线红外涂层测厚仪
品牌:日本仓纺
型号: Kurabo RX-250
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手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)
品牌:美国Semiconsoft
型号:MProbe 20 HC
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手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe 20 HC
- 产地:美国
手持式,大件,弯曲表面膜厚测量——更简单,更可靠!
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在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MPROBE 70
- 产地:美国
产线生产光学无接触薄膜厚度连续测量
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薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60(mapping测量)
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MPROBE 60
- 产地:美国
薄膜厚度精准定位小点测量
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原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MPROBE 50 INSITU
- 产地:美国
真空光学无接触薄膜厚度测量
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美国 Semiconsoft 反射膜厚仪MProbe NIR
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe NIR
- 产地:美国
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。
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美国 Semiconsoft 反射膜厚仪MProbe UVVisSR
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe UVVisSR
- 产地:美国
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
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美国 Semiconsoft 反射膜厚仪MProbe RT
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe RT
- 产地:美国
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
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美国 Semiconsoft 显微反射膜厚仪MProbe MSP
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe MSP
- 产地:美国
MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。
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美国 Semiconsoft 反射膜厚仪MProbe Vis
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe Vis
- 产地:美国
MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺
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美国 Semiconsoft 反射膜厚仪MProbe
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe
- 产地:美国
当一束光入射到薄膜表面时,薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉,干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关,反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。
- 在线测厚仪
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