客户位于苏州吴江经济技术开发区，主要致力于半导体检测设备的研发与产业化，公司团队具有10年以上半导体检测设备开发与项目经验针对半导体制程中的不同检测需求，设计多种类型检测设备，用于替代当前国外进口主流设备，达到更高效更精准的检测效果，性价比更高。这是我们跟此客户的第4次在膜厚仪方面的合作，岱美人员快速的反应与全方位的技术支持是长期合作的基础。
FR-ES膜厚测量仪采用的是波长范围在370-1020nm的可见光干涉测量，能够测量12nm-100um范围的膜层厚度，准确度高达0.1%或1nm，精度为0.05nm，是一款性价比很高的膜厚测量设备。
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