膜厚测量仪 Filmetrics F3

光学膜厚测量仪 filmetrics f3

经济适用的反射率测试系统

f3膜厚测量仪是专门为采集反射率光谱曲线设计的，并且可选配至厚度和指数测试功能，基本通用型拥有40000个小时适用寿命的光源及自动波长校准，大大提高了测试准确度。

快速厚度测试

升级厚度测试软件许可后，厚度值将在测试数据结果中直观的显示。软件中存入了常用的介质材料及半导体层的光学常数。

指数测试功能（n 和 k）

对于更高级用户来说， 指数测试软件升级能在短时间内提供折射率和消光系数。

filmetrics的优势

桌面型薄膜厚度测量的

24小时电话，email，在线支持

直观的分析软件

附加特性

嵌入式在线诊断方式

免费离线分析软件

精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测试结果

免费现场演示/支持

点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示！请联系我们，我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易

相关应用

半导体制造 光刻胶 氧化物 氮化物光学镀层 硬涂层 抗反射层 滤光器
液晶显示器 盒厚 聚酰亚胺 ito生物医学 聚对二甲苯 生物膜 消化纤维

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