国际主流的研究级专业仪器
■ 国际主流的研究级专业仪器,集成原子力显微镜(AFM),横向力显微镜(LFM),扫描隧道显微镜(STM)
■ 分辨率:原子力显微镜:横向0.2nm,垂直0.1nm(以云母晶体标定)扫描隧道显微镜:横向0.1nm,垂直0.01nm(以石墨晶体标定)
■ 高精度计量型仪器,采用NanoSensors提供的可溯源于国际计量权威机构Physikalisch-Technische Bundesanstalt(PTB)的标准样品进行校准
■ 扫描隧道显微镜包括恒流模式、恒高模式、I-V曲线、I-Z曲线等
■ 原子力显微镜具有接触、轻敲、相移成像 (Phase Imaging) 等多种工作模式和力-距离曲线、振幅-距离曲线、相移-距离曲线等测量分析功能
■ 横向力显微镜具有摩擦力回路曲线、摩擦力载荷曲线、摩擦力恒载荷曲线等多种摩擦学性能分析测量功能
■ 探头配备合金密闭盖,有效将探针-样品体系与外界环境隔离,形成一个独立的内环境,内置高精度温湿度传感器,探针-样品体系温湿度实时检测并直接数显,实现环境检测扫描探针显微镜功能
■ 探头密闭盖预留大孔径顶视窗,内置亮度连续可调的无影光源,便于探针、样品及扫描过程直接观察和监控;远紫外石英玻璃顶视窗,便于样品的实时宽光谱辐射的处理
■ 方便实用的高性能花岗岩底座悬挂减振系统,减振效果优于1.5Hz
■ 一键式快速全程全自动进样,无需手动预调,行程大于30mm,可容纳超大样品
■ 两级可读数样品调节机构,可对样品进行精确的检测区域定位
■ 一次扫描技术,图像分辨高达4096×4096物理象素,微米级扫描即可得到纳米级的实际信息
■ 主控制系统采用TI的DSP+RAM双核信号处理器,内置二代的实时操作系统spm/DNA,全数字控制,系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数智能识别和控制,只需要更换探针架,即可自动切换仪器类型和模式
■ 先进PID反馈算法实现快速高精度作用力控制,确保系统在高速扫描中稳定成像,实际扫描速度提升一个数量级
■ 多重针尖保护技术,有效延长探针使用寿命
■ 系统采用10M/100M快速以太网(Fast Ethernet 10/100)或USB 2.0与计算机连接
■ 主控机箱前面板具有16×4液晶显示屏,系统当前状态实时显示
■ 具备实时在线三维图像显示功能,便于用户在检测过程中随时直观获得样品信息
■ 具有简体、繁体和英文三种语言版本的在线控制软件和后处理分析软件,基于新 Windows Vista开发,兼容Windows XP/2000/NT/9X全系列操作系统
■ 具备双向扫描(Trace-Retrace)、往返扫描、线扫描等多种扫描模式,并具备自动更新扫描图像亮度、对比度功能
■ 环境温、湿度和系统参数与扫描图像同步保存,图像、曲线等结果均具有数据导出功能,用户可取得全部原始数据
■ 针尖表征及图像重建功能(针尖形貌估计/图像重建/用已知针尖重建图像)
产品特点
接触模式
接触模式下,微悬臂探针紧压在样品表面,检测时与样品保持接触,作用力(斥力)通过微悬臂的变形进行测量。在该模式下,探针和样品表面相接触,针尖与样品局域直接相互作用,实现技术相对简单,分辨率高,但成像时针尖对样品的作用力较大,特别是扫描过程中,样品受到探针因相对运动而产生的剪切力作用,故一般只适用于表面结构稳定的样品。

轻敲模式
轻敲模式下,系统产生一振动信号驱动微悬臂探针,使之处于共振状态而上下振荡。利用该微悬臂探针对样品表面进行扫描,检测因样品表面起伏引起的微悬臂振幅的相应变化,从而得到样品的表面形貌。
该模式下,微悬臂处于上下振荡状态,扫描成像时针尖“敲击”样品表面,两者间只有瞬间接触,能有效克服接触模式下因针尖的作用力(尤其是横向力)引起的样品损伤,适合于柔软或吸附样品的检测。
相移模式
作为轻敲模式的一项重要扩展技术,相移模式通过检测驱动微悬臂探针振动的信号源的相位角与微悬臂探针实际振动的相位角之差(即两者的相移)的变化来成像。
引起相移的因素很多,如样品的组分、硬度、粘弹性质等,此外,当样品表面存在裂道和狭缝,由于其边缘对振动探针产生纵向摩擦,也会引起额外的相移。因此利用相移模式,可以在纳米尺度上获得样品表面局域性质的丰富信息。迄今相移模式已成为原子力显微镜的一种重要检测技术。
技术参数
横向力/摩擦力显微镜(LFM/FFM)
横向力/摩擦力显微镜(LFM/FFM)的工作原理与接触模式的原子力显微镜相似。
针尖压在样品表面扫描时,与扫描方向相反的横向力使微悬臂探针左右扭曲。通过检测这种扭曲,可获得样品在纳米尺度局域上与探针的横向作用力分布图。
影响横向力的因素很多,主要包括摩擦力、台阶扭动、粘性等,故利用横向力显微镜可得到许多样品表面的有用信息,主要用于样品纳米级摩擦系数的间接测量、表面裂缝及粘滞性分析等。

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已咨询827次原子力显微镜
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已咨询6893次表面成像
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已咨询6470次化学科学
报价:¥430000
已咨询427次SPM/AFM 扫描探针原子力显
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已咨询5469次扫描探针显微镜SPM (原子力显微镜)
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已咨询1084次原子力显微镜
报价:面议
已咨询1801次扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM)
在纳米尺度研究领域,瑞士Nanosurf公司推出的DriveAFM原子力显微镜系统代表了当前尖端技术的巅峰之作。通过光热激振(CleanDrive)、直驱扫描(Direct Drive)和全电动控制三大核心技术的协同创新,DriveAFM彻底解决了传统AFM在精度、稳定性和跨环境兼容性上的固有瓶颈,为材料科学和生命科学研究提供了前所未有的高精度、高稳定性的研究平台。
FlexAFM是一款高度通用且灵活稳定的原子力显微镜,适用于物理、材料科学及生物科学等领域。它具有稳定的常规材料学应用性能,并能便捷地与倒置光学显微镜集成用于生物研究,或放置在手套箱中研究二维材料。FlexAFM支持多种操作模式和升级配件,具备高分辨率成像和探索样品地形的能力,尤其擅长处理敏感样品的电气特性,是全球众多科研人员的理想选择。此外,它还能与外部硬件集成,扩展研究功能。对于生命科学研究,FlexAFM能够与倒置显微镜联用,实现在液体环境中的纳米材料、生物分子或细胞研究。结合流体力学探针显微镜FluidFM技术,FlexAFM进一步解锁了单细胞生物学和纳米科学的新应用。
瑞士Nanosurf 原子力显微镜,专为工业级高精度与超大样品而设计,将科研级分辨率与工业兼容性深度融合,成为半导体量产、新材料研发及跨学科微观表征的强有力工具。
表面形貌是许多高科技材料表面的重要特性,其可能低至几纳米,表面粗糙度不到一纳米。原子力显微镜可以在正常环境条件下轻松分析这些特征。
Alphacen 300 原子力显微镜系统是一种独特的 AFM 解决方案,可以轻松处理大型和重型样品。它具有Flex-Mount扫描头,采用针尖扫描的设计方式,无论样品重量如何,都能实现高性能成像。配置的CX 控制器是 Nanosurf 最先进的 AFM 控制器,可快速精确地控制扫描过程,稳定成像。专用的隔音罩可减少外部噪音和振动的影响。同时,该系统还可以通过添加额外移动轴或旋转轴进行更复杂的定制,满足您的特定样品测试需求。
Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比,高真空测量具有准确度好、可重复性好及针尖和样本损伤低等优点。
高精度探针针尖变量的亚埃米级表面粗糙度测量,晶圆的表面粗糙度对于确定半导体器件的性能是至关重要的,对于先进的元件制造商,芯片制造商和晶圆供应商都要求对晶圆商超平坦表面进行更精确的粗糙度控制。
对于工程师来说,识别介质/平面基底的纳米级缺陷的任务是一个非常耗时的过程,Park NX-HDM原子力显微镜系统可以自动缺陷识别,通过与各种光学仪器的联用可以提高缺陷检测效率。