-
日立台式电镜 TM4000/TM4000PlusⅡ
品牌:日立
型号:TM4000/TM4000PlusⅡ
-
纳克微束高分辨场发射扫描电镜 FE-1050系列
品牌:纳克微束
型号:FE-1050系列
- 产品品牌
- 不限
-
收起品牌
- >
-
飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2
- 品牌:荷兰Phenom-World
- 型号: Phenom Pharos G2
- 产地:荷兰
荷兰飞纳公司推出第二代肖特基场发射电子源台式扫描电镜 Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源,使用户可以轻松获得高分辨率图像,且低电压性能优异。Phenom Pharos G2 低电压成像优势明显,可减轻电子束对样品的损伤和穿透,更好地观测绝缘和电子束敏感的样品,可以最大程度还原样品真实形貌。 第二代台式场发射电镜的分辨率提升至优于 1.5nm,广泛用于半导体、生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。
-
飞纳台式扫描电镜高分辨率专业版 Phenom Pro
- 品牌:荷兰Phenom-World
- 型号: Phenom Pro
- 产地:荷兰
飞纳台式扫描电镜高分辨率专业版 Phenom Pro 是一款快捷,出众,可靠的电镜成像分析设备,拥有独特的台式扫描电子显微镜设计,创新型用户使用界面,直观的触控设置,全自动操作。提供在诸多领域中要求的高分辨率以及高质量分析成像。高性价比、操作简便、快速成像的飞纳台式扫描电镜成为工程师,技术员,研究员以及科教专家观测微米以及纳米结构的首要选择。
-
飞纳台式扫描电镜大样品室zhuo越版 Phenom XL
- 品牌:荷兰Phenom-World
- 型号: Phenom XL
- 产地:荷兰
飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 进一步拓展了紧凑型台式电镜的性能极限,同时具备飞纳电镜系列简单易用、快速成像的两大特点。此外,它配备了超大的样品腔室,可以观察分析zuida样品尺寸为 100 mm x 100 mm 的样品。全新开发的紧凑型马达台确保用户可以观察到整个样品区域。
-
飞纳台式扫描电镜能谱一体机 Phenom ProX
- 品牌:荷兰Phenom-World
- 型号: Phenom ProX
- 产地:荷兰
飞纳台式扫描电镜能谱一体机 Phenom ProX —— 智能、GX、能谱电镜一体化 放大倍数:350,000× 分辨率:优于 6nm@10kV 电子枪:1,500 小时 CeB6 灯丝 抽真空时间:小于 15 秒 加速电压:5kV - 15 kV 连续可调 能谱仪EDS元素分析功能 拓展功能:3D粗糙度重建、纤维统计测量,高倍拼图等
-
飞纳 增材制造评估 ParticleX AM
- 品牌:荷兰Phenom-World
- 型号: ParticleX AM
- 产地:荷兰
飞纳 Phenom ParticleX 增材制造金属粉末全面评估系统 以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础,可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计,为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。
-
飞纳 清洁度分析 ParticleX TC
- 品牌:荷兰Phenom-World
- 型号: ParticleX TC
- 产地:荷兰
飞纳 Phenom ParticleX 全自动清洁度分析系统 以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础,可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计,为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。
-
德国Zeiss 场发射电子显微镜SIGMA 300
- 品牌:德国蔡司
- 型号: SIGMA 300
- 产地:德国
德国Zeiss 场发射电子显微镜SIGMA 300 ,ZLGemini镜筒,超高的束流稳定性,超高的束流稳定性,zhuo越的低电压性能,In Lens 探测器,磁性材料高分辨观察,ding级X射线分析设计,便越操作系统设计,超大空间,多接口,升级灵活。
-
ZEISS聚焦离子束扫描电镜Crossbeam 350
- 品牌:德国蔡司
- 型号: Crossbeam 350,Crossbeam 550
- 产地:德国
德国ZEISS蔡司聚焦离子束扫描电镜FIB/SEM,Crossbeam 350,Crossbeam 550,标准样品仓有18个扩展接口,加大样品仓有22个扩展接口。
-
荧光电镜一体机 CLEM
- 品牌:荷兰Phenom-World
- 型号: Delphi iCLEM
- 产地:荷兰
德飞采用光电关联显微技术(CLEM),荧光定位样品中感兴趣区域,电镜接力高倍观察,通过在荧光图像中叠加电镜图像,在一张图像里同时获得样品功能物质分布信息和高分辨结构信息。
-
飞纳 枪击残留物分析 GSR
- 品牌:荷兰Phenom-World
- 型号: GSR
- 产地:荷兰
Phenom GSR 飞纳台式扫描电镜自动枪击残留物分析是全球SC在台式扫描电镜运行自动枪击残留物分析软件。
-
捷克泰思肯 TESCAN MIRA 场发射扫描电镜
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN MIRA
- 产地:捷克
TESCAN MIRA 是 TESCAN 推出的第四代高性能扫描电子显微镜,配置有高亮度肖特基场发射电子枪,在TESCAN 的 Essence™ 操作软件的同一个窗口中实现了 SEM 成像和实时元素分析。
-
捷克泰思肯 TESCAN VEGA 钨灯丝扫描电镜
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN VEGA
- 产地:捷克
TESCAN VEGA 第四代钨灯丝扫描电子显微镜,采用全新的 Essence™ 电镜操控软件系统,将扫描形貌图像与元素实时分析集成于同一个扫描窗口中。
-
捷克泰思肯 TESCAN VEGA COMPACT 钨灯丝扫描电镜
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN VEGA COMPACT
- 产地:捷克
TESCAN VEGA COMPACT 秉承了前一代 VEGA 系列电镜的优异性能,是一款入门级,但是功能强大的分析型钨灯丝扫描电镜。
-
捷克泰思肯 TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: RISE Microscope
- 产地:捷克
RISE电镜-拉曼一体化系统是一款新颖的显微镜技术,在一个集成的显微镜系统中结合了共焦拉曼成像和扫描电子显微镜技术,这种独特的组合为显微镜用户对样品进行综合表征,提供了明显的优势。
-
捷克泰思肯 TESCAN AMBER 镓离子型双束扫描电镜
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN AMBER
- 产地:捷克
TESCAN AMBER 是TESCAN第四代 FIB-SEM 的新成员,是一款超高分辨双束 FIB-SEM 系统,它可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以JJ的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。
-
捷克泰思肯 TESCAN SOLARIS X 氙等离子源双束FIB系统
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN SOLARIS X
- 产地:捷克
TESCAN SOLARIS X 是一款氙(Xe)等离子超高分辨双束 FIB-SEM 系统,配置新颖的 TriglavTM 超高分辨率电子镜筒以及ZX款的 iFIB+TM 离子镜筒,它的超高分辨表征能力和无与伦比的样品制备效率,非常适合于材料、生命及半导体领域分析表征中ZJ挑战性的大体积三维样品的分析工作。
-
Quattro扫描电镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Quattro
- 产地:荷兰
1.可在自然状态下对材料进行原位研究:具有环境真空模式(ESEM)的独特高分辨率场发射扫描电镜 2.缩短样品制备时间:低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析,样品表面无荷电累积 3.在各种操作模式下分析导电和不导电样品, 同步获取二次电子像和背散射电子像 4.安装原位冷台、珀尔帖冷台和热台,可在-165°C 到 1400°C 温度范围内进行原位分析 5.zhuo越的分析性能,样品仓可同时安装三个 EDS 探测器 6.针对不导电样品的zhuo越分析性能 7.灵活、精确的优ZX样品台,105°倾斜角度范围,可全方位观察样品 8.软件直观、简便易用,并配置用户向导及 Undo(撤销)功能,操作步骤更少,分析更快速
-
德国布鲁克 电子显微镜分析仪 QUANTAX FlatQUAD
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: QUANTAX FlatQUAD
- 产地:德国
无与伦比的高通量 分析敏感样品
-
布鲁克 扫描电镜专用原位纳米力学测试系统 PI 88
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: PI 88
- 产地:德国
该系统通过视频接口将材料的力学数据(载荷-位移曲线)与相应SEM视频之间实现时间同步,允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法,只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化,因无法监测中间过程,而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。
-
德国布鲁克 电子显微镜分析仪 QUANTAX WDS
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: QUANTAX WDS
- 产地:德国
波长分散X射线光谱:终极的分析精度和准确性 低元素 X 射线能量范围的质量性能 高分辨率、高灵敏度和低检测限制
-
德国布鲁克 OPTIMUS 2
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: OPTIMUS 2
- 产地:德国
The Enhanced TKD Detector Head
-
德国布鲁克 电子显微镜分析仪 QUANTAX EBSD
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: QUANTAX EBSD
- 产地:德国
同轴 TKD 具有无与伦比的性能 最佳空间分辨率 低探头电流要求
-
ZEISS 高分辨电子扫描显微镜EVO 10
- 品牌:德国蔡司
- 型号: EVO 10
- 产地:德国
ZEISS 高分辨电子扫描显微镜-EVO 10,具备自动化工作流程的高清晰扫描电镜,提高样品的成像分辨率,提供更多表面细节信息,EVO 电镜广泛应用于材料和生命科学领域。
-
捷克泰思肯 集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM)
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TIMA-X FEG LMU/LMH
- 产地:捷克
TIMA3 LMU/LMH FEG是一款基于场发射扫描电子显微镜设计的集成式矿物分析专家,适用于采矿和矿物处理行业的应用。
-
TESCAN MIRA 场发射定制版扫描电镜(AMU)
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN MIRA (AMU)
- 产地:捷克
TESCAN MIRA 场发射扫描电镜给用户带来了zui新的技术优点(如改进的高性能电子设备使成像过程更快,快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿,有内置的编程软件等),同时保持着zui高的性价比。MIRA 的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用,例如:EBSD、WDX等分析。现代电子光路高亮度肖特基电子枪可获得高分辨率/高电流/低噪音图像独特的三透镜大视野观察(Wide Field Optics™)设计提供了多种工作与显示模式独特的中间镜的作用
-
TESCAN 集成矿物分析仪系统
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TIMA-X
- 产地:捷克
TESCAN综合矿物分析仪(TIMA)是一款新型的自动矿物分析的扫描电子显微镜,适用于采矿和矿物加工行业。TIMA可以对块状、薄片或抛光切片样品进行自动矿产丰度分析、粒度解离分析、矿物组合分析和颗粒尺寸分析。TIMA的应用范围很宽,包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了前所未有的数据采集速度,进而得到快速、准确和可靠的结果。TIMA硬件TESCAN TIMA基于MIRA肖特基场
-
ZEISS 高分辨电子扫描显微镜-EVO 10
- 品牌:德国蔡司
- 型号: EVO 10
- 产地:德国
ZEISS 高分辨电子扫描显微镜-EVO 10,具备自动化工作流程的高清晰扫描电镜
-
自动硅藻检验 DiatomScopeTM
- 品牌:荷兰Phenom-World
- 型号: DiatomScope
- 产地:荷兰
自动硅藻检验 DiatomScopeTM 系统为法医硅藻检验提供了可靠GX的解决方案,能自动完成每批各个样品的高质量的图像捕捉,实现地毯式拼图(可设置夜间自动运行);用户从获取的图片中逐个查找、标记硅藻位置(允许多用户同时标记来提GX率);DiatomScopeTM 对所有标记的位置自动高倍数取图;zui后,系统将自动生成包含所有被标记硅藻的高质量图片的报告。
-
德国ZEISS蔡司聚焦离子束扫描电镜Crossbeam 350,Crossbean 550
- 品牌:德国蔡司
- 型号: Crossbeam 350,Crossbean 550
- 产地:德国
德国ZEISS蔡司聚焦离子束扫描电镜FIB/SEM:Crossbeam 350,Crossbean 550,标准样品仓有18个扩展接口。
-
德国Zeiss 场发射电子显微镜SIGMA 300
- 品牌:德国蔡司
- 型号: SIGMA 300
- 产地:德国
德国Zeiss 场发射电子显微镜SIGMA 300,专利Gemini镜筒,超高的束流稳定性,卓越的低电压性能,In Lens 探测器,磁性材料高分辨观察,顶级X射线分析设计,便越操作系统设计,超大空间,多接口,升级灵活。
-
ZEISS 高分辨电子扫描显微镜-EVO 10
- 品牌:德国蔡司
- 型号: EVO 10
- 产地:德国
ZEISS 高分辨电子扫描显微镜-EVO 10,具备自动化工作流程的高清晰扫描电镜
-
德国 PVA 超声波扫描显微镜SAM 302 HD2
- 品牌:德国PVA TePla
- 型号: SAM 302 HD2
- 产地:德国
德国 PVA 超声波扫描显微镜型号: SAM 302 HD2(适合5-6mm 以内翘曲样品,如12寸FOWLP ,一次性扫描完成) SAM 302 HD2 主要技术参数:可根据样品的翘曲情况(5-6mm以内),在扫描过程中实时调整焦距:即 Z 轴一边快速扫描,一边实时自动改变 Z 轴探头的上下对焦位置,使得探头对于检测位置始终处于聚焦状态,从而保证整个样品的扫描图像完整
-
捷克泰思肯 TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN SOLARIS
- 产地:捷克
TESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统,适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务,这些任务要求设备具有zui佳的分辨率、zui先进的离子光学系统和zui好的纳米加工能力。
-
TESCAN MAGNA 新一代超高分辨场发射扫描电镜
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN MAGNA
- 产地:捷克
TESCAN MAGNA 新一代超高分辨场发射扫描电镜 TESCAN MAGNA 是一款功能极其强大的分析仪器,适用于纳米材料的形貌表征以及微观分析。TESCAN MAGNA 配置 Triglav™ 型 SEM 镜筒,具有超高的分辨率,在低电压下尤为明显;镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力,可以获得更好的图像衬度和表面灵敏度,非常适用于不导电样品的成像,如陶瓷、无涂层生物样品,以及在半导体光敏样品。此外,TESCAN MAGNA 配备肖特基场发射电子枪,能够提
-
TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电镜
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN CLARA
- 产地:捷克
TESCAN CLARA 是一款适用性非常广泛的扫描电子显微镜,能够满足各个科研和技术领域对不同材料进行高质量成像和表征的需求。TESCAN CLARA 使用了 TESCAN BrightBeam™ 型 SEM 镜筒,该镜筒配置了可变比例式静电-电磁复合物镜,可以在低加速电压下实现无漏磁超高分辨成像,这对于包括磁性样品在内的各类样品具有广泛的适用能力。 主要特点:新一代镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力首次配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分
-
捷克泰思肯 TESCAN AMBER X 高分辨氙离子源双束扫描电镜
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN AMBER X
- 产地:捷克
TESCAN AMBER X 是WM结合了分析型等离子 FIB 和超高分辨(UHR)扫描电镜的综合分析平台,能够很好的应对传统的 Ga 离子 FIB-SEM 难以完成的困难挑战。
-
[公开招标]预算690万元 石河子大学采购扫描电镜能谱一体机
石河子大学公开招标扫描电镜能谱一体机、高效液相色谱,zeta电位粒径分子量测仪,在线质谱气体分析系统、分子精馏装置,硅基催化剂在线生成与评价装置,项目编号:XJBTBJ[2024]822号、XJBTBJ[2024]830号
-
[公开招标]预算280万元 中南民族大学采购激光片层扫描显微镜
中南民族大学公开招标激光片层扫描显微镜,项目编号:FZHB-0432403-017
- 扫描电镜/扫描电子显微镜
- 仪器网导购专场为您提供扫描电镜/扫描电子显微镜功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选扫描电镜/扫描电子显微镜的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。