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应用分享丨平插式能谱仪表征SiC纳米颗粒

来源:布鲁克纳米分析部 更新时间:2025-05-15 11:30:14 阅读量:240
导读:应用分享丨平插式能谱仪表征SiC纳米颗粒



平插式能谱仪表征SiC纳米颗粒-1.png





实验背景


温度传感在汽车、医疗、航空航天、农业和消费电子等关键行业中至关重要。温度是监测系统预期功能的关键变量,必须控制实时温度以优化工艺。热敏电阻精度和灵敏度高,温度范围在2-6摄氏度之间,应用广泛。在本研究中,作者制备了基于SiC纳米颗粒的丝网印刷墨水,用于制造高灵敏度和宽温度范围的热敏电阻。


测试过程


作者通过扫描电子显微镜观察了3C -SiC颗粒的形态,如图1所示,颗粒密集排列,孔隙率极低。并使用图像处理软件Imagej计算出薄膜的孔隙率为约9.74%。

平插式能谱仪表征SiC纳米颗粒-3.png

图1. 3C -SiC颗粒的SEM显微图。


如图2所示,FlatQUAD可以清晰表征不平整样品且无阴影效应,可以在5kV低电压下表征纳米级颗粒。SiC颗粒的EDS图像显示:Si和C元素均匀分布,同时存在O元素,这是因为碳化硅颗粒表面存在天然的氧化壳。

平插式能谱仪表征SiC纳米颗粒-2.png

图2.(a)SiC颗粒、(b) Si、(c) C和(d) O的EDS元素分布图。


实验结果


不同重量比的碳化硅纳米颗粒热敏电阻墨水被印制在IDE结构上,形成完全印刷的热敏电阻。实验结果为完全印刷的碳化硅热敏电阻的应用铺平了道路,Bruker仪器在实验中表现出极高分辨率。



更多信息请参阅原文

https://doi.org/10.3390/ma17112489

All Screen Printed and Flexible Silicon Carbide NTC Thermistors for Temperature Sensing Applications,Arjun Wadhwa,Jaime Benavides-Guerrero,Mathieu Gratuze,Martin Bolduc and Sylvain G. Cloutier





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平插能谱测试短片








电子显微元素分析的新时代





XFlash_FlatQUAD_transparent_rgb_XL.png





布鲁克革命性的平插式能谱仪,采用环形四元设计,采集信号数十倍于常规斜插式能谱,具有SEM中更大的X射线探测效率和灵敏度,空间分辨率优于10 nm,是低电压分析纳米特征、低束流分析电子束敏感样品的利器。



xflash-flatquad-principle-annular-high-solid-angle






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