在半导体制造、光学元件生产、新材料研发这些对精度要求极高的领域里,微小粒子的存在就像 “隐形隐患”—— 能不能精准找到它们、分析清楚,直接决定了产品质量能不能达标,研发工作能不能推进。以前用传统方法检测,大的麻烦就是看不见亚微米级的悬浮粒子,只能靠数据推测,没法直观看到粒子的真实样子,这成了行业提高效率、提升品质的大难题。

多场景微粒子可视化解决方案:精准捕捉微观世界,赋能全领域品质管控
针对半导体、光学、材料研发等领域的粒子检测痛点,我们打造覆盖全粒径范围的多场景可视化解决方案,以三款核心系统+专业配套软硬件,实现从亚微米到粗大粒子的精准捕捉与深度分析,适配不同应用场景的核心需求。
(1)亚微米可视化插入系统 CVS-亚微米 (≤0.1µ)
无需激光照射,凭借新光学设计,光源单独运行即可实现亚微米异物的直接目视观察。搭配先进图像处理技术,为肉眼不可见的微小粒子补充清晰成像,彻底打破传统检测的视觉局限。系统出射与成像部件采用轻薄化设计,可直接集成至设备内部,安装灵活不占用额外空间。
(2)粒子可视化激光系统 CVS激光 (≤0.1µ)
搭载4级激光器,聚焦极微小异物检测,实际应用中已实现100纳米级粒子的清晰成像。采用卓越直线性设计,大程度减少杂散光干扰,搭配窄波长带光源与带通滤光片,大幅降低环境光影响,确保超小粒径粒子的精准可视化。
(3)粗大粒子可视化系统 CVS-LED

通过特殊聚焦技术,让易扩散的LED光保持优异直行性,配合强大图像处理能力,不仅能精准识别纤维碎片,更可直观呈现树脂、金属等各类粗大异物。产品具备高性价比优势,价格更具市场竞争力,且支持通过增加光源拓展可视化范围,适配多样化检测场景。
北京欧屹科技有限公司代理的三款系统搭配起来,再加上专业的配套软硬件,从亚微米到粗大粒子,全粒径范围的检测需求都能满足。而把这套好用的系统带给国内企业的,正是我们欧屹科技。作为该悬浮粒子可视化系统的代理方,我们一直想着把优质的检测技术和产品引进来,帮国内行业打破检测瓶颈。不管是半导体、光学还是材料研发领域,只要有粒子检测的需求,我们都能靠这套系统,为企业提供靠谱的解决方案,助力大家在品质升级和技术创新上走得更稳、更远。
欢迎随时与北京欧屹科技有限公司联系咨询,我们将为您提供专业、全面的技术支持与服务。
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