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实测案例——晶圆上氮氧化锂(LiPON)薄膜的表征(二)

来源:岱美仪器技术服务(上海)有限公司 更新时间:2026-04-07 11:45:32 阅读量:42
导读:由于铂层厚度相对较高且具有强光学吸收特性,可将其视为光学上的半无限介质,因此在光学模型中作为有效衬底使用。

上期内容回顾:实测案例——晶圆上氮氧化锂(LiPON)薄膜的表征(一)


结果:

样品 1 - 铂钛层上的锂磷氧氮薄膜

由于铂层厚度相对较高且具有强光学吸收特性,可将其视为光学上的半无限介质,因此在光学模型中作为有效衬底使用。锂磷氧氮薄膜的整面扫描图结果如下图所示。下图中展示了具有代表性的实验实测反射光谱(红色曲线)。光谱拟合在 400–900 nm 波长范围内进行。


图 4: 样品 1 - 铂钛层上锂磷氧氮薄膜区域的整面扫描图。

图 5:铂钛层上代表性测量点的反射光谱及锂磷氧氮薄膜厚度结果。

图 6:铂钛层上代表性测量点的快速傅里叶变换频谱图。


样品 1 - 硅基底上二氧化硅层之上的锂磷氧氮薄膜

锂磷氧氮薄膜及二氧化硅薄膜的厚度整面扫描图结果如下图所示。下图9展示了具有代表性的实验实测反射光谱(红色曲线)。光谱拟合在400–900 nm波长范围内进行,在拟合过程中同步确定了两个膜层的厚度。


图 7: 样品 1 - 锂磷氧氮薄膜区域的整面扫描图。

图 8: 样品 1 - 二氧化硅薄膜区域的整面扫描图。

图 9: 二氧化硅层上锂磷氧氮薄膜代表性测量点的反射光谱及厚度结果。


样品 2 - 二氧化硅薄膜

二氧化硅薄膜的厚度整面扫描图结果如下图所示。下图中展示了具有代表性的实验实测反射光谱(红色曲线)。光谱拟合在 400–900 nm 波长范围内进行。


图 10:样品 2 - 二氧化硅薄膜区域的整面扫描图。

图 11:二氧化硅薄膜代表性测量点的反射光谱及厚度结果。


结论:上述晶圆已成功完成表征,结果总结如下。具体而言,对应于各样品整面扫描图测量的统计数据表如下:

所提供的晶圆可通过 FR-Scanner-AllInOne-Mic-XY200 设备及 5 倍物镜实现精确表征。

400-852-9632
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