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美国KLA filmetrics膜厚仪价格：面议- 品牌： 美国KLA
- 型号：F20
- 产地：美国
美国Filmetrics光学膜厚测量仪，测量膜层厚度从15nm到450um。利用反射干涉的原理进行无接触测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速
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美国KLA台阶仪价格：面议- 品牌： 美国KLA
- 型号：P7
- 产地：美国
KLA-Tencor先进的探针式台阶仪，可精确测量纳米级至2毫米台阶高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应力，集高测量精度、多功能性和经济性于一体，是生产线及材料分析等应用领域的理想选择。因其具有
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