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美国KLA白光干涉仪价格:面议
- 品牌: 美国KLA
- 型号:Profilm 3D
- 产地:美国
Profilm 3D是一款兼白光干涉 (WLI)和高精确度相移干涉 (PSI) 技术的经济型光学轮廓仪,其可以用于多种用途的高精度表面测量。Profilm 3D光学轮廓
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美国Nanovea ST400三维表面形貌仪价格:面议
- 品牌: 美国Nanovea
- 型号:ST400
- 产地:美国
产品简介ST400型三维表面轮廓仪是一款多功能的三维形貌仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器可用于测量大尺寸
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美国Nanovea PS50光学轮廓仪价格:面议
- 品牌: 美国Nanovea
- 型号:PS50
- 产地:美国
产品简介 PS50型三维表面形貌仪是美国NANOVEA公司推出的一款科研版的三维表面形貌测量设备,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试
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美国Nanovea JR25便携式三维轮廓仪价格:面议
- 品牌: 美国Nanovea
- 型号:JR25
- 产地:美国
产品简介 JR25型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪,该仪器的测量探头可以任意旋转,适合精密测量 不可移动样品表面形貌,同时适合进行野外测试。
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- 原子力显微镜
- 晶圆厚度翘曲量测系统
- CMP化学机械抛光机
- 晶圆研磨减薄机
- MEMS研发制造设备
- 半导体光刻工艺设备
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- (韩国)韩国Park Systems
- (美国)美国Nanovea
- (美国)美国KLA
- (德国)德国Osiris
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- (瑞士)瑞士POWATEC
- (美国)美国Lumina
- (德国)德国Intego
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