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美国Lumina光学表面缺陷分析仪价格：面议- 品牌： 美国Lumina
- 型号：AT1
- 产地：美国
一、简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料，又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进
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美国Lumina
Lumina Instruments 成立于 2019 年 1 月，旨在为不断增长的用于高科技产品的玻璃市场提供优质设备。由于缺乏负担得起、快速和准确的分析全套外部和内部缺陷的方法，导致他们创造了革命性的仪器。
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