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- 品牌： 德国SENTRONICS
- 型号：SemDex A
- 产地：德国
产品简介:SemDex A型全自动晶圆厚度测量系统是德国SENTRONICS公司一款高性能的半导体用全自动晶圆厚度测量系统，该系统集成了红外光谱干涉测量技术，光学干涉技术及光学反射技术的测量探头，广
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- 品牌： 德国SENTRONICS
- 型号：SemDex M2
- 产地：德国
品简介:SemDex M2型晶圆厚度测量系统是德国SENTRONICS半导体公司一款高性能的模块化晶圆厚度测量系统，该系统可集成红外光谱干涉测量技术，光学干涉技术及光学反射技术探头，广泛用于半导体Wa
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- 品牌： 德国SENTRONICS
- 型号：SemDex M1
- 产地：德国
品简介:SemDex M1型晶圆厚度测量系统是德国SENTRONICS半导体公司一款高性能的半自动晶圆厚度测量系统，该系统可集成红外光谱干涉测量技术，光学干涉技术及光学反射技术探头，广泛用于半导体Wa
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