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荷兰Fastmicro晶圆表面颗粒检测仪价格：面议- 品牌：
- 型号：FM-PDS
- 产地：荷兰
astmicro Particle Defect Inspection System | FM-PDS品牌：Fastmicro型号：FM-PDS产地：荷兰关键字：颗粒度检测，颗粒污染检测，晶
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美国Lumina光学表面缺陷分析仪价格：面议- 品牌： 美国Lumina
- 型号：AT1
- 产地：美国
一、简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料，又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进
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荷兰Fastmicro表面颗粒检测仪价格：面议- 品牌：
- 型号：FM-PS-SAS-V01
- 产地：荷兰
、仪器名称：表面颗粒度检测仪二、品牌型号：荷兰Fastmicro公司FM-PS-SAS-V01型三、产品简介荷兰Fastmicro FM-PS-SAS-V01型表面颗粒度检测系统，采用采样器在待测样品
- 产品分类
- 品牌分类
- 原子力显微镜
- 晶圆厚度翘曲量测系统
- CMP化学机械抛光机
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