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倬昊纳米科技(上海)中心
主营产品:薄膜测厚仪,扫描电镜/扫描电子显微镜,扫描探针显微镜/原子力显微镜/扫描隧道显微
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德国SENTRONICS

 
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德国Sentronics全自动晶圆厚度翘曲测量系统
  • 品牌:德国SENTRONICS
  • 型号:SemDex A
  • 产地:欧洲 德国
德国Sentronics模块化晶圆厚度翘曲测量系统
  • 品牌:德国SENTRONICS
  • 型号:SemDex M2
  • 产地:欧洲 德国
德国Sentronics科研级晶圆厚度翘曲测量系统
  • 品牌:德国SENTRONICS
  • 型号:SemDex M1
  • 产地:欧洲 德国

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德国SENTRONICS
sentronics metrology是半导体行业半自动化和全自动晶圆计量工具的成功供应商,从完整的制造工艺到先进的封装。公司是通用和模块化计量工具的小型灵活关键供应商,配备多种光学测量仪器,用于多种不同配置的薄膜、多层厚度、粗糙度、3D 形状和形貌。后面的测量仪器技术是基于反射测量和干涉测量技术。