日本日立 高新扫描电子显微镜FlexSEM 1000
日本日立 高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000
二手 日立 S-3400N 钨灯丝扫描电子显微镜SEM
日立扫描电镜/扫描电子显微镜TM4000
日立 SU9000 冷场发射扫描电子显微镜 SEM
日立TM4000扫描电镜独特的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察。TM4000优化提供5kV、10kV、15kV三种不同电压下的观察模式,每种模式下电流4档可调,并配备4分割背散射探测器,可采集四个不同方向的图像信息,对样品进行多种模式成像。具有全新的SEM-MAP导航功能,同时,电镜图片可以报告形式导出。配备大型样品仓,可容纳最大样品直径80mm,厚度50mm。
TM4000Plus是在TM4000基础上增加高灵敏度低真空二次电子探头UVD,该探头在低真空环境下具有很好的成像质量。TM4000Plus可将二次电子图像和背散射电子图像叠加并实时进行显示,获得最多的样品信息。可选配附件丰富,拥有诸多附加功能。
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已咨询6317次日立电子显微镜
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已咨询5808次SS-60
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已咨询903次场发射扫描电镜SEM4000
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已咨询310次高速扫描电子显微镜 HEM6000
S-4800型高分辨场发射扫描电镜(简称S-4800)为日本日立公司于2002年推出的产品。该电镜的电子发射源为冷场,物镜为半浸没式。在高加速电压(15kV)下,S-4800的二次电子图像分辨率为1 nm,这是目前半浸没式冷场发射扫描电镜所能达到的最高水平。该电镜在低加速电压(1kV)下的二次电子图像分辨率为2nm,这有利于观察绝缘或导电性差的样品。S-4800的主要附件为X射线能谱仪。
二手 日立 SEM+EDX 冷场电镜SU8000系列高分辨场发射扫描电镜,其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm,并且在探测器设计上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三个Everhart-Thornley型探测器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多种信号,实现微区的形貌衬度、原子序数衬度、结晶衬度和电位衬度的观测;结合选配的STEM探测器。
日立SU-8010是日立高新技术的SEM的全新品牌,新品牌 "REGULUS系列" 电子光学系统进行了最优化处理,使得着陆电压在1KV时分辨率较前代机型提高了约20%。另外,最适合低加速电压下高分辨观察的冷场电子枪可将样品的细节放大,并获得高质量的图片。最大放大倍率也由之前的100万倍提高到了800万倍。除此之外,为了能更好的应对不同样品的测试和保持并发挥出高性能,还对用户辅助工能进行了强化。
日本电子扫描电镜JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的钨灯丝扫描电镜。颠覆性的前卫性外观设计还特别吸引眼球。操作改为触摸屏控制,简单化,从此操作电镜非常只能化。
扫描电子显微镜主要用于观察物体的表面形貌像,除此意外,如果配备能谱分析系统,在进行获得样品表面像的时候,还可以对样品的某个定点位置进行元素的半定量分析。根据EDS分析出的元素比例,进行拟合处理,可以大概的判断出样品是什么类型的样品。
德国Zeiss 场发射电子显微镜SIGMA 300 ,ZLGemini镜筒,超高的束流稳定性,超高的束流稳定性,zhuo越的低电压性能,In Lens 探测器,磁性材料高分辨观察,ding级X射线分析设计,便越操作系统设计,超大空间,多接口,升级灵活。
德Zeiss 电子束直写仪 Sigma SEM,利用曝光抗蚀剂,采用电子束直接曝光,可在各种衬底材料表面直写各种图形,图形结构(Z小线宽为10nm),是研究材料在低维度、小尺寸下量子行为的重要工具。广泛应用于纳米器件,光子晶体,低维半导体等前沿领域。
德国Zeiss 场发射电子显微镜SIGMA 300,专利Gemini镜筒,超高的束流稳定性,卓越的低电压性能,In Lens 探测器,磁性材料高分辨观察,顶级X射线分析设计,便越操作系统设计,超大空间,多接口,升级灵活。