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日立台式电镜 TM4000/TM4000PlusⅡ
品牌:日立
型号:TM4000/TM4000PlusⅡ
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纳克微束高分辨场发射扫描电镜 FE-1050系列
品牌:纳克微束
型号:FE-1050系列
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场发射扫描电子显微镜 SU9000
- 品牌:日立
- 型号: SU9000
- 产地:日本
专门为电子束敏感样品和需zuida300万倍稳定观察的先进半导体器件,高分辨成像所设计。
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场发射扫描电镜热场式 SU5000
- 品牌:日立
- 型号: SU5000
- 产地:日本
操作GX便捷 创新的“EM Wizard”界面更加直观,仅需要“点击”即可得到wan美的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平。
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扫描电子显微镜 SU3500
- 品牌:日立
- 型号: SU3500
- 产地:日本
Hitachi的扫描电子显微镜SU3500 高画质的钨灯丝扫描电镜, 图象质量更进一步。 通过高画质提升扫描电镜的分析能力和操作性, 凝聚日立zuixian极n科技“独具匠心”。
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Hitachi聚焦离子束系统 MI4050
- 品牌:日立
- 型号: MI4050
- 产地:日本
MI4050是高效率的聚焦离子束设备,它使用了全新的电子光学系统,具有世界领先的SIM图像分辨率,并且TEM样品制备效果优异。MI4050广泛用于截面观察、微电路修复、纳米图像制备和纳米沉积等。
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高精度激光扫描显微镜
- 品牌:美国MONSTR Sense
- 型号: NESSIE
- 产地:美国
高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧,组件灵活,可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器,实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广,快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。
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赛默飞Axia ChemiSEM 钨灯丝扫描电镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Axia ChemiSEM
- 产地:美国
新一体化钨灯丝扫描电镜 Axia ChemiSEM,该仪器将微区成分分析与电镜成像集成在同一平台上,快速提供所需微观形貌及实时成分信息,帮助学术和工业用户快速获得全面、可靠的数据,准确执行故障分析和缺陷检测。
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国仪量子 SEM5000 PRO 热场发射扫描电子显微镜 SEM
- 品牌:合肥国仪量子
- 型号: SEM5000
- 产地:合肥
场发射扫描电镜SEM5000 PRO SEM5000 PRO 是一款分辨率高、功能丰富的场发射扫描电子显微镜。先进的镜筒设计,高压隧道技术(SuperTunnel)、低像差无漏磁物镜设计,实现了低电压高分辨率成像,同时磁性样品可适用。光学导航、完善的自动功能、精心设计的人机交互,优化的操作和使用流程,无论经验是否丰富,都可以快速上手,完成高分辨率拍摄任务。产品特点01分辨率高,低加速电压下实现高分辨成像02电磁复合物镜,减小像差,显著提高低电压下的分辨率,而且可观察磁性样品03高压隧道技术(
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DUALBEAM FIB-SEM 显微镜 ExSolve Wafer TEM Prep DualB
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: ExSolve Wafer TEM Prep DualB
- 产地:美国
用于自动化、高通量半导体晶片分析的 TEM 分析样品制备工作。
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赛默飞世尔 nProber IV系统 电气故障分析系统
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: nProber IV
- 产地:美国
用于电气故障隔离和高效TEM工作流程的纳米探测,以提高半导体故障分析能力。
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赛默飞世尔 DUALBEAM FIB-SEM 显微镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: ExSolve Wafer TEM Prep DualB
- 产地:美国
用于自动化、高通量半导体晶片分析的 TEM 分析样品制备工作。
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赛默飞世尔 DUALBEAM FIB-SEM 显微镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: ExSolve Wafer TEM Prep DualBea
- 产地:美国
用于自动化、高通量半导体晶片分析的 TEM 分析样品制备工作。
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中科科仪 EM8100 热场发射扫描电子显微镜SEM
- 品牌:北京中科科仪
- 型号: EM8100
- 产地:朝阳区
KYKY-EM8100场发射扫描电子显微镜产品特点:高性能肖特基场发射电子枪,亮度高、单色性好、束斑小、寿命长具备卓越的低加速电压成像性能超大样品腔室,更多扩展接口,满足多探测器、多功能联用、多嵌入原位测试束流稳定,满足长时间工作需求非导体试样或电子束敏感试样可不喷涂导电膜直接观测技术指标:分辨率0.9nm@30KV(SE);3.0nm@1KV(SE) ; 2.5nm@30KV (BSE)放大倍率2-3000000 倍电子枪肖特基热场发射电子枪加速电压0.2~30kV透镜系统多级高性能透镜系
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国仪量子 SEM3300 钨灯丝扫描电子显微镜SEM
- 品牌:合肥国仪量子
- 型号: SEM3300
- 产地:合肥
突破传统钨灯丝电镜极限,分辨率可实现 2.5 nm @ 20 kV 4 nm @ 3 kV 5 nm @ 1 kV 2.可实现全自动的采图和拼接,展示超大视野画面钨灯丝扫描电镜SEM3300SEM3300 是全新一代钨灯丝扫描电子显微镜,分辨率优于2.5nm。特殊的电子光路设计,突破钨灯丝分辨率极限,在低电压 1 kV 下,达到 5 nm 的分辨率。拥有出色的成像质量、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。大景深,成像富有立体感。丰富的扩展性,助您在显微成像的世界中尽情探索。产品优势应用案例
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国仪量子 SEM3200 钨灯丝扫描电子显微镜SEM
- 品牌:合肥国仪量子
- 型号: SEM3200
- 产地:合肥
作为一款钨灯丝扫描电镜,其在低真空模式下,可以提供样品表面细节和形貌,且通过软件可以一键切换真空状态。 2.SEM3200扫描电镜可实现,在低真空下,无需镀膜即可完成对不导电样品的优质成像。 3.面向生物样品,可以采用大视场观察,轻松获取整体形貌及结构细节,实现跨尺度分析。扫描电子显微镜SEM3200SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。大景深,成像富有立体感。丰富的扩展性,助
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国仪量子 SEM2000 钨灯丝扫描电子显微镜SEM
- 品牌:合肥国仪量子
- 型号: SEM2000
- 产地:合肥
钨灯丝扫描电镜SEM2000是一款基础款的多功能分析性钨灯丝扫描电镜。20kV分辨率可以做到3.9nm,支持升级30kV电压,可观察亚微级尺度样品的微观结构信息。拥有比台式电镜更大的移动范围,适用于快速筛选待测样品,更多的扩展接口,可搭载BSED、EDS等附件,使应用领域更广。产品特点简洁的操作界面纯中文的操作界面功能设计简单易操作。符合国人使用习惯,即使是新手用户,简单了解后也能快速上手。完善的自动化功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散,均可一键调节,提高工作效率。丰富的测量工具长度、面积、圆度、
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中科科仪 EM-6900 钨灯丝扫描电子显微镜SEM
- 品牌:北京中科科仪
- 型号: EM6900
- 产地:朝阳区
产品特点l 具备较高分辨率,满足大多数样品的微观形貌测试l 翻开式预对中钨丝阴极,更换灯丝方便l 成像效果优良,细节清晰,景深大l 样品仓室可多接口扩展,满足诸多原位测试,以及多功能嵌入l 中英文菜单,一键切换l 自动功能:电子枪加热、偏压、对中、聚焦、亮度、对比度、消像散、像散记忆等。l &n
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中科科仪 EM8000 热场发射扫描电子显微镜SEM
- 品牌:北京中科科仪
- 型号: EM8000
- 产地:朝阳区
1 . 分辨率:1.5nm@15KV (SE); 3nm@30KV (BSE)2 .放大倍率:8 ~ 800000倍3 .电子枪:肖特基热场发射电子枪4 .加速电压:0 ~ 30kV5 .透镜系统:多级高性能锥形透镜系统6 .物镜光阑:三个可在真空外调节,无需拆卸镜筒即可更换物镜光阑7 .真空系统:1套离子泵组,1个涡轮分子泵,1个机械泵;样品室真空优于6.0E-4Pa ,电子枪仓真空优于2E-7Pa。全自动真空控制,具有真空互锁功能。8 .探测器标准配置:高真空二次电子探测器;红外CCD摄像头9 .
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泽攸科技 ZEM15 台式扫描电子显微镜SEM
- 品牌:安徽泽攸科技
- 型号: ZEM15
- 产地:铜陵
秉承操作便捷、快速成像、性能稳定的设计目标,泽攸科技自主研发了钨灯丝ZEM15台式扫描电子显微镜。ZEM15台式扫描电镜速度快,信号采集带宽10M,可以在视频模式下流畅实时的显示样品。只需鼠标就可完成所有操作,不需对中光阑等复杂步骤,聚焦消像散后可直接拍图。主机集成高压及控制系统,体积小巧,便于移动,可出差携带,安装无需特殊环境,只需找一张桌子,供电就可工作。产品特色1、操作简单:仅需鼠标即可完成所有操作,不需对中光阑等复杂步骤,聚焦消像散后即可拍图。2、成像快速:抽真空时间小于2分钟,配合光学导航可快速
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TESCAN FIB-SEM-TOF-SIMS 双束聚焦扫描电子显微镜-飞行时间二次离子质谱联用系统
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: FIB-SEM-TOF-SIMS
- 产地:捷克
系统主要优势: 高灵敏度,Be,B和Li之类的轻元素检出限可达ppm级 优异的空间分辨率,横向分辨<40nm,纵向分辨率<15 nm 正负离子均可检测,离子质量分辨率>800 2维和3维快速、高离子质量分辨率和高空间分辨率成像,进行原位FIB深度分析 通过坐标转移,保证不同仪器分析位置的重合
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TESCAN RISE电镜拉曼一体化扫描电子显微镜SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: RISE
- 产地:捷克
RISE电镜-拉曼一体化系统SEM-Raman (RISE Microscopy) RISE电镜-拉曼一体化系统是一款新颖的显微镜技术,在一个集成的显微镜系统中结合了共焦拉曼成像和扫描电子显微镜技术,这种独特的组合为显微镜用户对样品进行综合表征,提供了明显的优势。扫描电子显微镜是一个很好的表征纳米范围内样品表面结构的可视化技术,而共焦拉曼成像是表征样品化学和分子组成的成熟光谱方法。RISE电镜-拉曼一体化系统还可以同时得到样品的2D、3D图像,以及样品中分子化合物组成的可视化分布结果。&nb
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TESCAN VEGA 钨灯丝扫描电子显微镜SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: VEGA
- 产地:捷克
完全集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平台,在 Essence™ 电镜操控软件的单一窗口中即可实现 SEM 成像和元素成分分析。 TESCAN 采用独特的无机械光阑设计,采用实时电子束追踪(In Flight Beam Tracing™)的技术,可帮助用户快速获得电镜合适的成像及分析条件。 独特的大视野光路(Wide Field Optics™)设计,最低至2倍的放大倍数,无需额外的光学导航摄像头即可轻松、精确地实现 SEM 导航。 直观、模块化的 Essence™ 软件设计,不同经验等级的用户均可轻松操作。 在样品台及装置的样品运动过程中,Essence™ 3D 防碰撞模块可以直观的显示安装样品室内的探测器及样品台的位置信息,提供安全性的保护。 SingleVac™ 模式作为标准配置,为观测不导电样品和电子束敏感的样品提供便利的分析利器。 可选配的真空缓冲节能单元可显著缩短机械泵的运行时间,提供环保、高经济效益的电子显微镜。 模块化分析平台,可选配集成最多种类的探测器和附件(如阴极荧光探测器,水冷背散射电子探测器或拉曼光谱仪等)。
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TESCAN MIRA 热场发射扫描电子显微镜SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: MIRA
- 产地:捷克
TESCAN MIRA 是 TESCAN 推出的第四代高性能扫描电子显微镜,配置有高亮度肖特基场发射电子枪,在TESCAN 的 Essence™ 操作软件的同一个窗口中实现了 SEM 成像和实时元素分析。这种结合大大简化了从样品中获取形貌和元素数据的过程,从而使得MIRA 成为质量控制、失效分析和实验室常规材料检测的有效分析解决方案。TESCAN MIRA 具有创新的光学设计,确保在需要时可以随时无缝地选择成像或分析条件,而无需对镜筒内的任何元件重新进行机械对中;借助完全集成的 Essence™ ED
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TESCAN MAGNA 热场发射扫描电子显微镜SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: MAGNA
- 产地:捷克
TESCAN MAGNA FE-SEM 突出特点: ü 电子信号选择检测功能,帮助用户获得更好的表面灵敏度和衬度。 ü 进一步提升了低电压下超高分辨 SEM 成像,以及在 30keV 下使用 STEM 表征纳米材料的性能。 ü 自适应束斑优化功能,有利于更好的进行 EDS、WDS 和 EBSD 等分析。
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TESCAN AMBER 双束聚焦扫描电子显微镜 FIB-SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: AMBER
- 产地:捷克
TESCAN AMBER 是一款双束(FIB-SEM)聚焦扫描电镜系统系统,可以满足现今工业研发和学术界研究的所有需求,在提供无与伦比的图像质量的同时,可完成复杂的纳米操作并保证极佳的精度和操作灵活性。TESCAN AMBER 配置了最新的 BrightBeam™ 镜筒,真正的无磁场超高分辨(UHR)可以最大化的实现各种分析,包括磁性样品的分析,以及在 FIB 操作时 SEM 的实时监测。另一方面,创新的 Orage™ FIB 镜筒配有先进的离子光学系统和气体注入系统,
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TESCAN SOLARIS 双束聚焦扫描电子显微镜FIB-SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: SOLARIS
- 产地:捷克
TESCAN SOLARISZUI先进的纳米加工能力,挑战样品制备质量的极限 TESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统,适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务,这些任务要求设备具有最佳的分辨率、离子光学系统和纳米加工能力。TESCAN SOLARIS 的 Triglav™ 型 SEM 镜筒具有超高的分辨率,特别是在低电压下;镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力,为获得更好的图像衬度和表面灵敏度翻开了全新的篇章。TESCAN
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TESCAN AMBER X 氙离子源双束聚焦扫描电子显微镜FIB-SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: AMBER X
- 产地:捷克
iFIB+ 氙等离子FIB镜筒 最大离子束流可达1 μA, 可实现超高刻蚀速率 分辨率 : < 15 nm 无与伦比的超大视野:1 mm @ 30 keV 快速精确的压电驱动光阑变换器 BrightBeam™ 超高分辨SEM镜筒技术 无漏磁超高分辨SEM镜筒可以最大程度实现各类样品的分析和表征 分辨率:1.5 nm @ 1kV 优化的镜筒内探测器系统,进一步提高了探测能力 光阑优化提升了分辨率,特别是在高束流下分辨率 最新的 Essence™ 电镜软件和用户界面 用户界面友好 可定制化的布局
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TESCAN SOLARIS X 氙等离子源双束聚焦扫描电子显微镜FIB-SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: SOLARIS X
- 产地:捷克
TESCAN SOLARIS X 是一款氙(Xe)等离子超高分辨双束 FIB-SEM 系统,配置新颖的 TriglavTM 超高分辨率电子镜筒以及最新款的 iFIB+TM 离子镜筒,它的超高分辨表征能力和无与伦比的样品制备效率,非常适合于材料、生命及半导体领域分析表征中最具挑战性的大体积三维样品的分析工作。 TESCAN SOLARIS X 配置的 TriglavTM 超高分辨率电子镜筒,同时使用了全新的 T
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赛默飞 Phenom™ ProX 台式扫描电子显微镜 SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Phenom™ ProX
- 产地:美国
第六代 Thermo Scientific™ Phenom™ ProX G6 台式 SEM 可填补光学显微镜和落地式 SEM 分析之间的差距,从而扩展研究设施的能力。除了集成式能量色散 X 射线衍射 (EDS) 检测器之外,还提供快速、高分辨率的成像,可实现可靠、易于使用的快速元素分析。快速而易于使用的 Phenom Pro 台式 SEM 可用于减轻落地式 SEM 仪器中常见样品的常规分析负担。仪器配置和样品加载机制可确保快速成像,并在两次实验之间花费最少的时间进行调整。任何经验水平的设施用户均可通过 P
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赛默飞 Phenom XL G2 台式扫描电子显微镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Phenom XL G2 台
- 产地:美国
自动化 Phenom XL G2 Desktop SEM 通常可通过 Phenom 编程接口 (PPI) 实现标准访问 ,这是一种通过 Python 脚本控制 Phenom XL G2 Desktop SEM 的强有力方法。如果用户具有需要重复工作来分析颗粒、孔隙、纤维或较大 SEM 图像的 SEM 工作流程 ,仪器就可以自动完成。 长使用寿命 CeB₆ 源 长使用寿命 CeB₆ (cerium hexaboride) 源具有几个优点。首先,它提供的高亮度可以与钨相比,使许多用户可以轻松获得高质量图像。第二,放射源的寿命很长,维护间隔长。 Eucentric 样品架 在许多 SEM 应用中,如果样品可以倾斜和旋转,用户可以更深入地了解样品特性。选配 eucentric 样品架可使 eucentric 倾斜和旋转,使研究和分析更快速、更准确。 元素鉴定 (EID) Phenom XL G2 Desktop SEM 可配备可选能量色散 X 射线光谱 (EDS) 检测器、以通过 X 射线分析获得更多材料见解和元素鉴定。 逐步数据收集 专用软件包 元素鉴定软件包 (EID) 用于控制完全集成的 EDS 检测器。EID 软件中直观的分步过程可帮助用户以有组织和结构化的方式收集所有 X 射线结果。
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赛默飞 Phenom Pharos热场发射扫描电子显微镜能谱一体机SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Phenom Pharos
- 产地:美国
产品特点: 高分辨场发射扫描电镜 • 肖特基场发射电子源 • 分辨率优于 2.5 nm@15 kV 使用最方便的场发射扫描电镜 • 耦合式电子光路设计 • 无需喷金直接观察不导电样品 世界上最快的场发射扫描电镜 • 内置全自动真空锁,15 秒抽真空 • 实时地图导航,全面样品跟踪 场发射扫描电镜能谱一体机 • 原厂集成能谱仪 • B (5)-Am (95) 元素探测 普通放置环境 • 台式设计,完全防震 • 内置磁屏蔽系统 售后无忧 • 高容差、防呆设计 • 电子光路免维护
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赛默飞 Axia ChemiSEM 钨灯丝扫描电子显微镜SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Axia ChemiSEM
- 产地:美国
真正的实时定量元素分析 Axia ChemiSEM与传统的扫描电镜不同,它的EDS集成在仪器上,并在电镜工作时始终在后台收集成分数据。它使用专利的算法同时处理BSE(背散射电子)和EDS信号,从而可以实时显示样品的形态和定量元素结果。 荷电样品高质量成像 面对荷电样品,常规的做法是镀膜。但这需要额外的设备和操作,且微观形貌可能被破坏。Axia无需安装额外的附件即可实现低真空成像,且分辨率与高真空条件下相同。 标配红外CCD和全彩导航相机 当表征完一个样品,切换到下一个样品时,您需要对样品仓里面的情况了如指掌,这样就可以轻松找到下一个样品的位置,也可以保障电镜极靴的安全。Axia让这些成为标准配置,您无需再额外购买。 一键式体验,更好的自动化功能 对焦、消像散、亮度对比度等都是电镜表征工作最常规但耗时的工作。Axia让这些操作可以一键完成,无论高倍还是低倍。此外,您也无需经常做电子束合轴,因为在Axia上这是自动完成的。 多种应用软件 Axia ChemiSEM兼容多种自动化扩展应用,如标配的Thermo Scientific Maps™ 软件,可实现无人值守的自动拍图和大尺寸图像拼接;Thermo Scientific AutoScript™ 软件配合开放的API接口和丰富的现成脚本库,让您轻松成为电镜达人。 更少动手,更多安全 Axia配备电动伸缩的BSE探头,以及预对中的灯丝,您无需手动完成这些设备或耗材的安装,这使得由于不小心导致的仪器损坏几率降到最低,最高程度保证仪器的安全。
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赛默飞 Prisma E 钨灯丝环境真空扫描电子显微镜SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Prisma E
- 产地:美国
☆方便快捷地加载多种样品和重样品; ☆基于Thermo ScientificTM Nav-CamTM相机和蒙太奇导航功能简化样品导航; ☆便捷性的用户指南和撤消功能; ☆先进的扫描模式和电子束减速确保卓越的图像质量; ☆Thermo ScientificTM ColorSEMTM技术下进行直观的元素分析; ☆专用真空模式,具备强大的样品兼容性; ☆独特的环境扫描模式能够在材料的自然状态下成像; ☆可集成冷/热台进行易于控制的动态实验; ☆广泛选择的探测器和附件,包括扫描透射电 (STEM)、阴极发光、图像拼接等
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赛默飞 Quattro C/S 热场发射环境真空扫描电子显微镜SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Quattro C/S
- 产地:美国
在自然状态下对材料进行预案为研究,具有环境真空模式(ESEM)的*高分辨率场发射扫描电镜; 缩短样品制备时间:低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析,样品表面无荷电累积; 在各种操作模式下分析导电和不导电样品,同步获取二次电子像和背散射电子像; 优良的分析性能,样品仓可同时安装3三个EDS探测器,其中2个EDS端口分开180°、WDS和共勉EDS/EBSD; 针对不导电样品的分析性能:凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的EDS和EBSD分析; 灵活、准确的优中心样品台,105°倾斜角度范围,可多方位观察样品; 软件直观、简便易用,并配置用户向导及Undo(撤销)功能,操作步骤减少,分析更快速; 创新选项,包括可伸缩RGB阴极荧光(CL)探测器、1100℃高真空热台和AutoScript。
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赛默飞 Verios 5 XHR 扫描电子显微镜SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Verios 5 XHR
- 产地:美国
SmartAlign 技术 使用 SmartAlign 技术时,用户无需对电子束镜筒进行任何对中,这不仅能最大限度地减少维护,还能提高电镜生产率。 创新的电子光学系统 包括 Thermo Scientific 获得专利的 UC+(单色器)电子枪、ConstantPower 透镜和静电扫描,可实现准确稳定的成像。 亚纳米级分辨率 Elstar Schottky 电子源单色器(UC+)FESEM 技术和性能,实现从 1 至 30 keV 的亚纳米级分辨率。 一致的测量结果 Verios 扫描电镜非常适合实验室计量应用,能够在高放大倍数下校准经 NIST 认证的标准品。 低剂量操作和最佳对比度选择 结合了先进的高灵敏度、镜筒内 & 透镜下探测器和信号过滤功能 可实现低剂量操作和最佳衬度选择。 轻松访问射束着陆能量 低至 20 eV 也可实现用于真正的表面表征的极高分辨率。 无人照看的 SEM 运行 借助 AutoScript 4 软件,可选配基于 Python 的应用程序编程界面 (API)。 大腔室 可从两种高精确稳定的压电陶瓷驱动样品台中进行选择。
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赛默飞 Scios 2 DualBeam 双束扫描电子显微镜FIB-SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Scios 2 DualBeam
- 产地:美国
快速、便捷的制备 使用 Sidewinder HT 离子柱获得高质量、现场特定的 TEM 和原子探针样品。 超高分辨率成像 使用在最广泛的样品范围(包括磁性和非导电材料)内具有一流性能的 Thermo Scientific NICol 电子色谱柱。 最完整的样品信息 通过各种集成式色谱柱内和透镜下检测器获得清晰、精确和无电荷的对比度。 高质量、多模式亚表面和 3D 信息 使用可选配的 AS&V4 软件,通过精确靶向感兴趣区域来获得高质量、多模式亚表面和 3D 信息。 精确的样品导航 高度灵活的 110 mm 载物台和腔室内 Thermo Scientific Nav-Cam 摄像机允许根据具体应用需求进行定制。 无伪影成像和构成图案 具有专用模式,如 DCFI、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式。 优化您的解决方案 灵活的 DualBeam 配置,包括可选配的最高 500 Pa 腔室压力低真空模式,可满足具体的应用要求。
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赛默飞 Helios 5 Laser PFIB双束扫描电子显微镜FIB-SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Helios 5 Laser PFIB
- 产地:美国
【特点与应用】 ☆最快的毫米级横截面材料去除,材料去除率比典型的Ga + FIB要快15,000倍 ☆通过在更短的时间内采集更大的体积来实现统计学相关的表面下和三维数据分析 ☆准确、可重复的切割位置,三束交于样品上同一点 ☆通过提取表面下TEM薄片或块体进行三维分析来实现深层表面下特征快速表征 ☆ 实现对不导电或对离子束敏感等具有挑战性的材料进行高吞吐量处理 ☆实现对空气敏感样品的快速和简单表征,无需在不同仪器之间传送样品来进行成像和获取横截面 ☆Helios 5 PFIB平台的所有功能都非常可靠,包括最高质量的无镓 TEM和APT样品制备以及极高分辨率成像能力
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[公开招标]预算690万元 石河子大学采购扫描电镜能谱一体机
石河子大学公开招标扫描电镜能谱一体机、高效液相色谱,zeta电位粒径分子量测仪,在线质谱气体分析系统、分子精馏装置,硅基催化剂在线生成与评价装置,项目编号:XJBTBJ[2024]822号、XJBTBJ[2024]830号
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[公开招标]预算280万元 中南民族大学采购激光片层扫描显微镜
中南民族大学公开招标激光片层扫描显微镜,项目编号:FZHB-0432403-017
- 扫描电镜/扫描电子显微镜
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