等离子去胶机IoN 100WB-40Q
MicroChem 电子束光刻胶 PMMA
ZEON 电子束光刻胶ZEP530A
MicroChem PMGI & LOR Lift-off光刻胶
MicroChem 光刻胶负性光刻胶 SU-8系列
德国Allresist 正电子束光刻胶 AR-P 610系列

描述
-电子束,深紫外光(248nm)
-ZG分辨率,高对比度
-对玻璃、硅和金属有很强的附着力
-比PMMA敏感3-4倍
-敏感性可以通过软烤调整
-用于平面化和多层工艺
-温度稳定,可达240℃
-以甲基丙烯酸甲酯为基础的共聚物
甲基丙烯酸,安全溶剂1-甲氧基-2-丙醇
属性 I

属性 11



工艺条件
该图显示了AR-P 610系列电阻的典型工艺步骤。所有规范都是指导原则必须适应自身具体情况的价值观。For 进一步 信息 processing, “Detailed 电子束电阻的ZJ处理说明"。For 建议 废水 处理 和 general 安全 instructions, ”General 产品 信息 Allresist 电子束 resists”.


Processing instructions
抗蚀剂的敏感性随软烤温度的升高而增加,这是因为抗蚀剂的形成更加强烈下 的 甲基 丙烯酸 酐 的 分离 水 ( 图 剂量 与 softbake temperature).AR-P 617,因此,在200℃回火比在180℃回火大约敏感20%。剂量可以是对两层AR-P 617系统进行相应的调整,对于两层系统具有重要意义。在这种情况下,首先,底层在200℃下干燥,然后在180℃与上层膜一起回火。由于差异化的过程,较低的层次被开发人员更快地攻击,并明显削弱结构形成(起飞)。这些起飞结构也可以由双层系统PMMA/共聚物。首先在190℃下对ar - p617进行涂层回火处理,然后对其进行PMMA抗AR-P 679.03纺丝涂膜,150℃烘干。曝光后,两层都是一步显影,如AR 600-56处理瓶塞AR 600-60并冲洗。
剥离结构为ar - p617两层侧切结构, 采用PMMA/共聚物

经过AR 600-50的开发 开发后的PMMA/共聚物双层体系
底部:AR-P 617.06, 400纳米厚,200℃回火 底部:AR-P 617.06, 400纳米厚,在190℃回火
顶部:AR-P 617.06, 500纳米厚,180℃回火 顶部:AR-P 679.06, 180纳米厚,150℃回火


由甲基丙烯酸甲酯和甲基丙烯酸组成的共聚物与纯PMMA产品相比,在热载荷作用下能形成6环。在这种情况下,两个甲基丙烯酸基团必须相邻排列在聚合物链上(见大的结构式左),这在统计学上发生足够高混合比例为2:1时的频率(见右上方分子式)。在这个温度下反应是可能的,因为在反应过程中产生的水是非常好的离开组织。
The 6-ring 形成 分裂 比 脂肪 链 更 容易 在 与 电子 辐照 remainder 导致 copolymer. 的 灵敏度 越 高一旦调整,灵敏度将保持不变。逆开环反应是不可能的。

由于其优异的涂层性能,使其成为可能存在 的 水平 出 拓扑 wafer 发展 之前在这个例子中,200纳米高氧化层结构采用AR-P 617.08涂层的薄膜厚度为780纳米。曝光后(20kv)和开发(AR 600- 50,2分钟),晶圆片结构被完全平面的抗蚀剂线覆盖。
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