扫描电子显微镜-量子场发射扫描电子显微镜 SEM4000Pro
扫描电子显微镜-量子超高分辨场发射扫描电子显微镜 SEM5000X
扫描电子显微镜-量子高速扫描电子显微镜 HEM6000
扫描电子显微镜 SU3500
扫描电子显微镜 S-3700N
JEOL InTouchScope™系列的新机型, 采用新开发的高亮度电子枪和透镜系统，可以更迅速便捷地提供令人惊叹的高分辨率图像、高灵敏度和高空间分辨率；从设定视野到生成报告，利用完全集成的软件大大地提高了作业速度。主要特点：
◇ 视频介绍
请登陆链接：JSM-IT500HR特征1、2、3-movie
◇ ×100,000 SEM像轻松获得
JSM-IT500HR采用了新开发的高亮度电子枪和透镜系统，因而能获得令人惊叹的高画质图像。即使对实时图像，也能轻松地在CCD图像上从寻找视野迅速过渡到高倍率（×100,000）观察。
◇ 轻松的元素分析
利用Live Analysis 功能可以不必再分别考虑高倍率观察和EDS分析。
在观察屏幕上可以随时显示分析区域内的特征X射线谱图以及自动定性的主要构成元素，利用此功能还可以发现感兴趣的元素和一些意想不到的元素。
◇ 快速面分布＆长时间面分布
70秒！面分布结果
安装大口径的EDS支持快速面分布。
由于JSM-IT500HR的高亮度电子枪能提供稳定的探针电流，因此无论是进行大区域的长时间面分布还是整夜运转仪器检查全部的数据，都可以从容应对。
◇ 数据集中管理软件SMILE VIEWTM Lab
SMILE VIEWTM Lab是一个完全集成的数据管理软件，能对与样品台坐标关联的CCD图像、SEM图像、EDS分析结果等数据进行统一管理，可以快速生成报告。
利用SMILE VIEWTM Lab数据管理屏幕能对所有数据进行集中管理。利用样品架示意图或CCD图像获取的低倍率图像与观察位置、观察及分析结果以相互关联的形式被保存了起来。可以轻松查看或重新分析以前采集的数据并反映到报告中去。
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日常使用的SEM，好用！ 该设备ZG分辨率1nm、ZD探针电流300nA（之前的15倍），可提供丰富的观测和分析信息，用户界面操作简单、设计紧凑、配备大样品室。
JSM-IT800的场发射扫描电镜通用性强，可广泛应用于纳米材料、金属材料、半导体材料、化学化工、医学及生物学领域，可GX观察包括非导体样品及强磁性样品等。 JSM-IT800SHL分辨率可达0.5nm,成像能力强大。浸没式电子枪可提供500nA大电流，EDS和EBSD分析速度极快。 另外JSM-IT800系列还搭载了众多全新研发的电子光学技术，自动化程度极高。
JPS-9030 光电子能谱仪 JPS-9030配有静电透镜和分析器等JEOL多年的成功技术，具有高灵敏度和高分辨率，设计紧凑。特别是低加速电压和大束流离子枪使这款光电子能谱仪可以对不同厚度的薄膜进行样品表面原子层到微米级厚度样品层分析。样品室和刻蚀室真空是完全独立的，杜绝了污染，更好的保护超真空系统。
JAMP-9510F这款场发射俄歇电镜具有世界上zui高的空间分辨率：zui小束斑直径3nm（二次电子图像）和8nm（俄歇电子图像）。使用多通道探头的新的半球静电能量分析器（HAS）优化了俄歇分析，适合化学态分析。中性离子枪可用于绝缘材料的俄歇分析。样品台可装直径达95nm的样品。并且此仪器可扩展为UHV-SEM。
JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
用于光学薄膜及电极膜等各种薄膜形成的电子束蒸镀用电子枪/电源。
软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。
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