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日立台式电镜 TM4000/TM4000PlusⅡ
品牌:日立
型号:TM4000/TM4000PlusⅡ
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纳克微束高分辨场发射扫描电镜 FE-1050系列
品牌:纳克微束
型号:FE-1050系列
- 产品品牌
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Serial Block-face SEM 3View
- 品牌:日本电子
- 型号: Serial Block-face SEM 3View
- 产地:日本
肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与View®2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构,可以对精细结构进行三维分析。
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日立台式TM4000扫描电镜
- 品牌:日立
- 型号: TM4000
- 产地:日本
日立TM4000扫描电镜独特的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察。TM4000优化提供5kV、10kV、15kV三种不同电压下的观察模式,每种模式下电流4档可调,并配备4分割背散射探测器,可采集四个不同方向的图像信息,对样品进行多种模式成像
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日立扫描电镜SU3500
- 品牌:日立
- 型号: SU3500
- 产地:日本
SU3500采用全新电子光学和图像处理系统,独特六偏压设计,低压束流极大增强,分辨率提高,宽泛低真空范围利于观察更多类型的不导电的样品,特别是操作系统的自动化速度和准确性,简单3步即可完成,不仅提高作业速度,而且方便初学者操作。
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ArBlade5000离子研磨仪
- 品牌:日立
- 型号: ArBlade5000
- 产地:日本
ArBlade5000是专门针对快速或大面积加工而设计的离子研磨仪,它保留了IM4000系列的平面和截面研磨功能,同时对加工速率有了很大提升。ArBlade5000的截面加工速率达到1mm/h,截面加工宽度最大可达8mm,可以满足更大范围的加工需求。主要特点:1. 专业的平面和截面加工2. 全新设计的氩离子枪3. 大面积、高精度、低损伤加工
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MC1000离子溅射仪
- 品牌:日立
- 型号: MC1000
- 产地:日本
日立MC1000离子溅射仪是由日立高新技术公司自行设计制造,针对扫描电镜的精细高端需求而设计,适合微观结构较复杂的样品,尤其适合于场发射扫描电镜的高倍率观测应用。主要特点:1. 操作方便且有记忆功能,首chuangLCD触摸屏控制技术,可存储五种处理方案;2. 通过磁场控制金属颗粒的溅射喷镀轨迹,从而使镀层更均匀;3. 通过选配测量单元可实现1nm至30nm的镀层厚度控制。 应用领域:离子溅射仪在扫描电镜中应用十分广泛,通过向样品表面喷镀金、铂、钯及混合靶材等金属消除不导电样品的荷电现象,并提高
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IXRF磁控离子溅射仪MSP-2S/MSP-Mini
- 品牌:日立
- 型号: MSP-2S/MSP-Mini
- 产地:日本
IXRF磁控离子溅射仪MSP-2S/MSP-Mini利用磁控电极在低电压下对样品溅射金属靶材,为SEM样品表面喷镀金属镀层,方便电镜观察,而MSP-mini是一款体积小巧,操作简便,无需通入特殊气体,使用时只需设置喷镀时间即可。主要特点:1. 阳极磁控型靶材水平装入:极低的放电电压减弱样品受到的例子损伤和热损伤;2. 浮动样品台设计:使电流不通过样品,温度上升很少,同时减弱离子碰撞引起的损伤;3. 操作简便:通过定时器控制从真空排气到启动放电电压的整个过程。 应用领域:离子溅射仪在扫描电镜中应用
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Regulus8100冷场发射扫描电镜
- 品牌:日立
- 型号: Regulus8100
- 产地:日本
主要特点:1. 配备加速电压减速功能,的低加速电压成像能力,1kV分辨率可达1.1nm2. 日立ZGE×B技术,无需喷镀,可直接观测不导电样品3. 配备电子枪内置加热器,物镜光阑具有自清洁功能4. SE与BSE任意比例搭配功能应用领域:1. 纳米材料2. 半导体器件3. 高分子材料4. 生物医学5. 新能源
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FlexSEM 1000钨灯丝扫描电镜
- 品牌:日立
- 型号: FlexSEM 1000
- 产地:日本
FlexSEM1000是日立高新公司zuixin推出的一款机型小巧性能优异的钨灯丝电镜,拥有大束流和低球差的物镜和聚光镜设计,配备了高分辨率二次电子探头及高灵敏度五分割背散射探头,具有卓越的低真空成像能量,并且采用zuixin的SEM MAP高精度导航系统及zuixin最全的自动化功能,使性能更加优越,使用更加简便。特点1.节能环保的设计2.高效率的自动功能3.简捷的操作界面4.高分辨低真空观察
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日本电子JCM-6000PLUS桌上型扫描电镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JCM-6000PLUS桌上型扫描电镜
- 产地:日本
高真空二次电图像能达到更高的分辨率与景深,能达到更大的放大倍率,观察起伏度更大得样品。透过二次电子图(SEI)像与背散电子图(BSI)像的比较,更能清楚地了解样品表面结构细节。高真空状态下也能切换到背散电子图像,观察样品的成分像。
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是德科技8500台式场发射扫描电子显微镜
- 品牌:美国是德科技
- 型号: 8500
- 产地:美国
8500场发射扫描电子显微镜通过微型化静电聚焦镜的设计,有效避免传统电磁聚焦镜在成像过程中的滞后现象。不同于传统电镜在更换电子源后必需的复杂标定过程,是德科技8500系统通过现场更换ECD Cartridge,用户可得到一个全新的电子源、并配有高精度的电子束发射腔以及全新的检测器,相当于再次拥有了一台全新的 8500FE-SEM。特点和优势场发射高分辨扫描电子显微镜,结构优化,核心元件达到晶元尺度。在保持高端扫描电子显微镜性能的同时,大大减少对试验条件和配套设备的要求,并极大降低了后续场发射扫描电子显微镜
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台式场发射扫描电镜
- 品牌:美国是德科技
- 型号: 台式8500
- 产地:美国
8500场发射扫描电子显微镜通过微型化静电聚焦镜的设计,有效避免传统电磁聚焦镜在成像过程中的滞后现象。不同于传统电镜在更换电子源后必需的复杂标定过程,是德科技8500系统通过现场更换ECD Cartridge,用户可得到一个全新的电子源、并配有高精度的电子束发射腔以及全新的检测器,相当于再次拥有了一台全新的8500FE-SEM。特点和优势场发射高分辨扫描电子显微镜,结构优化,核心元件达到晶元尺度。在保持高端扫描电子显微镜性能的同时,大大减少对试验条件和配套设备的要求,并极大降低了后续场发射扫描电子显微镜的
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日立SU9000超高分辨率场发射扫描电子显微镜
- 品牌:日立
- 型号: SU9000
- 产地:日本
日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000是专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件,高分辨成像所设计。新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。0.4nm / 30kV(SE)1.2nm / 1kV(SE)0.34nm / 30kV(STEM)用改良的高真空性能和无与伦比的电子束稳定性来实现高效率截面观察。采用全新设计的Super E x B能量过滤技术,高效,灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。The world's highest SE resolution
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FB2200聚焦离子束系统
- 品牌:日立
- 型号: FB2200
- 产地:日本
新一代系统,效率更高、精度更高、质量更高。 具有大面积离子铣能力,提供高速透射电子显微镜样品制备。 60纳安离子束电流,提高了做样效率。 低加速原位电压,样品制备损坏率低。 采用日立ZL超薄样品制备技术(*),可制作出极微小精度的薄膜样品。 与日立其它扫描电子显微镜、透射电子显微镜、扫描透射电子显微镜使用共用样品杆(*),可快速简单转移样品,便于进一步成像和分析。 选购件 超薄样品制备附件 该附件用于制备STEM、TEM等
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日本电子JSM-6510扫描电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-6510
- 产地:日本
日本电子JSM-6510扫描电子显微镜 富瑞博国际有限公司代理多家国际知名仪器厂商产品 仪器简介: JSM-6510扫描电子显微镜 JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型扫描电子显微镜,与日本电子公司的元素分析仪(EDS),统合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制,操作员只用一只鼠标,就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。 操作窗口 直观的操作界面的设计,简明易懂
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扫描电镜探测器
- 品牌:上海孚光精仪
- 型号: BSE
- 产地:德国
这款扫描电镜探测器是全球领xian的BSE探测器或背散射电子探测器,为扫描电子显微镜提供**的信噪比和超高的分辨率,是SEM探测器中的zuixin产品。这款扫描电镜探测器适合全球所有的商用扫描电镜,采用独立设计理念, 具有标准的安装法兰接口,非常方便用户的安装和使用。扫描电镜探测器特点采用YAG:Ce单晶闪烁体采用闪烁体和光电倍增管,提供的图像质量全球**的超低能量镀膜技术,灵敏度可到0.5Kev 优异的信噪比无限的探测器寿命电动可回缩高精密导臂波纹管密封高真空系统完全用户订制化的SEM连接系统背散射电子
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冷场发射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-6701F
- 产地:日本
JSM-6701F为场发射扫描电子显微镜(FESEM),采用冷阴极场发射枪、超高真空和精密的数字技术,可进行显微结构的高分辨率、高质量成像。本系统装配锥形场发射枪和semi-in-lens物镜,可以在任何扫描速度下进行高分辨率的成像以及高质量的实时图像显示,使您即使在明亮的房间里也可观察和记录清晰的图像。JSM-6701F可以处理直径最大为8英寸的样品。 JSM-6701F是高级智能计算机扫描电子显微镜,保证了与未来计算机技术的兼容性。它duyi无二的图形用户界面可以控制条件设置、样品台马达驱
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冷场发射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM7500F
- 产地:日本
JSM-7500F 是一款功能强大,操作简便,节约能源的分析型场发射扫描电子显微镜.JSM-7500F具有其他扫描电子显微镜没有的低电压下最高的分辨率,在1KV下,分辨率达到了1.4nm.JSM-7500F提供了以前只有在浸没型物镜中才能达到的性能(30KV下0.6nm),但是样品尺寸不会如浸没型物镜扫描电子显微镜那样受到限制,可以操控直径200mm,高10mm的样品。 JSM-7500F 是一款高防震,防噪,适应苛刻安装条件的电子显微镜.全新的操作界面,即使是没有场发射扫描电子显
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蔡司扫描电镜Crossbeam 340
- 品牌:德国蔡司
- 型号: Crossbeam 340
- 产地:德国
蔡司高性能FIB-SEM 双束扫描电子显微镜系统—Crossbeam 340 系列在稳定性,易操作性和多功能性等方面都大有提升。这是一台兼容更多样品种类的高通量样品制备和纳米加工平台。针对 TEM 样品制备,微纳结构加工和各种样品分析等不同应用,可根据您的需求量身定制。
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钨灯丝扫描电子显微镜EVO
- 品牌:德国蔡司
- 型号: ZEISS EVO
- 产地:德国
蔡司钨灯丝扫描电子显微镜EVO18是一款具有处理各种材料能力的分析型显微镜,为您提供优异的成像品质。 标配能谱仪和波谱仪(EDS & WDC)接口,另有用于形貌与化学分析的全集成式颗粒分析和识别解决方案可供选择。通过升级LaB6高亮度光源将与X射线分析相关的探针电流性能提升至一个全新的水准。 EVO18 扫描电镜的五象限背散射电子探测器(BSE)有助于增强低电压性能及提供更丰富的形态信息。对于非导电样品,电子束衬管技术可有效提高分辨率。
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国仪量子扫描电子显微镜SEM3000S
- 品牌:合肥国仪量子
- 型号: SEM3000S
- 产地:合肥
国仪量子自主研发的扫描电子电镜SEM3000S是一款使用钨灯丝的高性能扫描电子显微镜,拥有完全自主知识产权。观察纳米级的微观结构,放大倍数可达150000倍。此型产品具有快速更换灯丝的优点,基于的电子光路设计及新型聚焦系统,其分辨率轻松优于10 nm。采用了大开门大腔体设计,在100 mm全自动五轴样品台的配合下,是科研及新材料研发的得力助手。
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国仪量子扫描电子显微镜SEM3000
- 品牌:合肥国仪量子
- 型号: SEM3000
- 产地:无锡
国仪量子自主研发的扫描电镜SEM3000是一款使用钨灯丝的高性能扫描电子显微镜。观察亚微米级的微观结构,放大倍数可达20000倍。此型产品具有快速更换灯丝的优点。其分辨率优于25 nm,在自动五轴样品台的配合下,非常适用于生产品质控制及样品筛选,适合传统光学显微镜无法满足需求的用户。
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JED-2300/2300F 能谱仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JED-2300/2300F
- 产地:日本
JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用,可以进行大范围的观察和分析。 EDS通过检测被电子束激发出的样品特征X射线,确定样品含有的元素及成分比,可以进行微区的点分析、线分析及面分析。
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日立透射电子显微镜HT7800系列
- 品牌:日立
- 型号: HT7800
- 产地:日本
日立独有的双隙物镜设计,支持低倍率下的大视野高反差观察与高分辨率观察 凭借在明亮环境中的数字化操作环境和各种自动功能,从初学者到熟练者均可操作 通过全新设计的"Image Navigation"功能,可轻松搜寻视野和拍摄图像 配备全自动图像拼接功能、三维重构、STEM和EDX等选配项,支持多种用途 通过选择高分辨率透镜,实现低损伤、高反差、高分辨率的观察,并可支持in situ观察
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场发射电子显微镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号:
- 产地:昌平区
技术参数 ▪ 分辨率: 0.8nm @15 kV 1.6 nm @1kV ▪ 放大倍数:10-1,000,000× ▪ 加速电压:调整范围:0.02-30 kV(无需减速模式实现) ▪ 探针电流: 4pA-20nA (40nA&100nA可选) ▪ 低真空范围:2-133Pa(Sigma 500可用) ▪ 样品室: 358 mm(φ),270.5 mm(h) ▪ 样品台:5轴优中 心全自动 ▪ X=125 mm(可选130mm) ▪ Y=125 mm(可选130mm) ▪ Z=50 mm ▪ T=-10º-90º ▪ R=360º 连续 ▪ 系统控制:基于Windows 7的SmartSEM操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控制
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泰思肯(Tescan)VEGA钨灯丝扫描电子显微镜
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号:
- 产地:捷克
泰思肯(Tescan)VEGA钨灯丝扫描电子显微镜产品简介TESCAN VEGA钨灯丝扫描电镜是TESCAN四代产品中的一员,配置无物镜光阑镜筒,实现超视野、高分辨及大景深成像,并且便于优化电子束参数,实现成像观察和分析应用。集成的 TESCAN Essence™ EDS功能,可以快速,轻松地从成像切换到元素分析操作。大视野观察,zui大可达50 mm;标配的 SingleVac™ 模式,不导电样品或电子束敏感样品无需喷镀即可在此模式下直接进行观察。配置新颖的Essence™三维演示功能,保证了样品运
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泰思肯(Tescan)MIRA通用分析型高分辨场发射扫描电镜
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号:
- 产地:捷克
泰思肯(Tescan)MIRA通用分析型高分辨场发射扫描电镜产品简介TESCAN MIRA是推出的第四代高性能扫描电子显微镜,配置有高亮度肖特基场发射电子枪,在TESCAN的 Essence™ 操作软件的同一个窗口中实现了SEM成像和实时元素分析。这种结合简化了从样品中获取形貌和元素数据的过程,从而使得MIRA成为质量控制、失效分析和实验室常规材料检测的有效分析解决方案。集成的 TESCAN Essence™ EDS功能,可以快速、轻松地从成像切换到元素分析操作。实时电子束追踪技术(In-flight
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泰思肯(Tescan)MAGNA高分辨场发射扫描电镜
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号:
- 产地:捷克
泰思肯(Tescan)MAGNA高分辨场发射扫描电镜产品简介:TESCAN MAGNA是一款分析仪器,适用于纳米材料的形貌表征以及微观分析。MAGNA配置 Triglav™ 型 SEM 镜筒,具有高的分辨率,在低电压下尤为明显;镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力,可以获得更好的图像衬度和表面灵敏度,适用于不导电样品的成像,如陶瓷、无涂层生物样品,以及在半导体光敏样品等。实时电子束追踪技术(In-flight Beam Tracing™)功能,可设置优化束斑尺寸和束流强度。TriBETM和T
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泰思肯(Tescan)CLARA高分辨场发射扫描电镜
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号:
- 产地:捷克
泰思肯(Tescan)CLARA高分辨场发射扫描电镜产品简介CLARA高分辨场发射扫描电镜可以提供高图像质量,具有扩展分析能力,能够满足工业研发和科研的所有需求,不仅适用于纳米分析应用,也给操作者带来舒适的使用体验。镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及分析配置4个探测器,可实现9种图像观测,对样品信息的采集全面配置大型样品室,有超过20个扩展接口,为原位观测、分析创造了良好的工作环境可以配置TESCAN自有或第
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德国3D扫描电镜标准样品
- 品牌:
- 型号: 3D calibration
- 产地:德国
3D calibration 电镜3D图像标准样品应用广泛,可用于扫描电镜SEM, 激光共聚焦显微镜CLSM,及原子力显微镜AFM/扫描隧道显微镜SPM
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德国扫描电镜3D图像测量分析系统
- 品牌:
- 型号: BSE Topography
- 产地:德国
尚丰科技 用户提供德国产高度精密的扫描电镜3D图像测量及分析系统。 通过背反射电子探测器(BSE)获取4通道信号,无需倾斜样品,即可帮助电镜用户快速便捷的获取高度精密的3D背散射BSE图像,有效提高电镜工作效率。
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德国EBIC电子束感生感应电流分析系统
- 品牌:
- 型号: EBIC
- 产地:德国
尚丰科技向用户提供专业的的电子束感生电流分析系统,EBIC可以用来进行集成电路中pn结的定位和损伤研究。
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德国EBAC/RCI电子束吸收电流分析系统
- 品牌:
- 型号: EBAC/RCI
- 产地:德国
EBAC/RCI电子束吸收电流分析系统,能够方便快速的定位半导体芯片电路中的短路及失效点位置,不但可以对同层电路,而且可以对次表层,甚至表层下第三层、第四层电路进行失效点的准确定位,因此能够对半导体芯片电路或相关材料进行快速准确的失效分析。在保留扫描电镜高分辨率的前提下,能够对同层芯片电路进行高准确定位,同时能够对次表层甚至表面下第三、第四层电路进行失效点定位
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德国EBAC/RCI电子束吸收电流分析系统
- 品牌:德国Point Electronic
- 型号: EBAC/RCI
- 产地:德国
作为德国POINT ELECTRONIC (PE) 公司中国区总代理,裕隆时代向用户提供专业的的电子束吸收电流分析系统EBAC/RCI。 EBAC/RCI电子束吸收电流分析系统,能够方便快速的定位半导体芯片电路中的短路及失效点位置,不但可以对同层电路,而且可以对次表层,甚至表层下第三层、第四层电路进行失效点的精准定位,因此能够对半导体芯片电路或相关材料进行快速准确的失效分析。 目前,集成电路芯片设计越来越复杂,关键尺寸和金属连线线宽越来越小,传统的失效点定位方法,如微光显微镜或光束又到电阻变化鞥,由于其分辨率不足,导致不能精确地定位电路故障点位置,电压衬度方法虽然在一些开路短路失效分析中能快速地定位失效点,但只是局限于电路同层分析。 EBAC/RCI电子束吸收电流分析系统是基于扫描电镜的分析系统,在保留扫描电镜高分辨率的前提下,能够对同层芯片电路进行高精准定位,同时能够对次表层甚至表面下第三、第四层电路进行失效点定位,因此越来越多的应用于先进制程芯片的失效分析。在涉及多层金属层的失效定位分析时,EBAC/RCI方法更加简便精确,可保证分析的成功率,并缩短分析周期。
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钨灯丝扫描电镜 落地型FlexSEM1000
- 品牌:日立
- 型号: FlexSEM1000
- 产地:日本
特点: 1.节能环保的设计 2.高效率的自动功能 3.简捷的操作界面 4.高分辨低真空观察
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尼康 台式电子扫描显微镜JCM 6000
- 品牌:尼康
- 型号: JCM 6000
- 产地:日本
台式电子扫描显微镜JCM 6000操作简单直观简单易懂的操作画面和触摸屏的使用,操作更加直观。功能丰富可以简单转换高真空/低真空两种模式;使用倾斜旋转马达驱动样品台;可以从多角度观察样品。反应迅速迅速开启设备,单击就可以转换高真空/低真空维护简易电子枪灯丝和栅极集成为一体,换灯丝只换一体化的组件即可,无需进行清洗和灯丝对中,因此在很短时间内就能够简单而准确地完成换灯丝。 主要规格 放大倍数二次电子像X10~60﹐000背散射电子像X10~30﹐000(图像尺寸128mmX96mm)&n
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尼康 LC15Dx激光扫描测头
- 品牌:尼康
- 型号: LC15Dx
- 产地:日本
LC15Dx 完全可以替代接触式测头,用于日益普遍的高精度三坐标测量机应用。该机器可在不影响生产周期的情况下更精确地测量产品尺寸。此外,它还能更GX地测量多种部件、几何体及材料,其中包括因尺寸极小或易碎而不宜使用接触式测头测量的部件。
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[公开招标]预算690万元 石河子大学采购扫描电镜能谱一体机
石河子大学公开招标扫描电镜能谱一体机、高效液相色谱,zeta电位粒径分子量测仪,在线质谱气体分析系统、分子精馏装置,硅基催化剂在线生成与评价装置,项目编号:XJBTBJ[2024]822号、XJBTBJ[2024]830号
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[公开招标]预算280万元 中南民族大学采购激光片层扫描显微镜
中南民族大学公开招标激光片层扫描显微镜,项目编号:FZHB-0432403-017
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[公开招标]预算1848万元 江西省土壤肥料与资环所采购稳定同位素比质谱仪
江西省农业科学院土壤肥料与资源环境研究所公开招标稳定同位素比质谱仪、多功能酶标仪,气相色谱三重四极杆质谱联用仪,电感耦合等离子体发射光谱仪,扫描电子显微镜、X荧光重金属分析仪,自动微生物鉴定分析系统、微波消解仪,四极杆飞行时间液质联用仪,项目编号:JXBJ24121308301
- 扫描电镜/扫描电子显微镜
- 仪器网导购专场为您提供扫描电镜/扫描电子显微镜功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选扫描电镜/扫描电子显微镜的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。