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德国G&N 8寸晶圆研磨机/减薄机价格:面议
- 品牌: 德国G&N
- 型号:MPS R400CV
- 产地:德国
产品简介 德国G&N公司前身为1940年成立的德国Kugelmüller有限公司,并于1964年开发了世界首台半导体晶圆研磨机。MPS R400 CV型晶圆研磨机是德国G&N
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德国G&N 6寸晶圆研磨机/减薄机价格:面议
- 品牌: 德国G&N
- 型号:MPS R300CV
- 产地:德国
产品简介 德国G&N公司前身为1940年成立的德国Kugelmüller有限公司,并于1964年开发了世界第一台半导体晶圆研磨机。MPS2
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韩国CTS工业级CMP化学机械抛机价格:面议
- 品牌: 韩国CTS
- 型号:SAERO2K
- 产地:韩国
产品简介韩国CTS公司的SAERO2K型CMP抛光机是一款全自动工业级CMP系统,4寸,6寸,8寸可选,用于半导体工厂及批量量产。产品主要特色- CMP抛光头:采用气囊加载模式,3区压力分区控制,可
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韩国CTS 12寸科研级CMP抛光机价格:面议
- 品牌: 韩国CTS
- 型号:AP-300
- 产地:韩国
产品简介 韩国CTS公司的AP300型CMP抛光机是一款科研级的CMP系统,采用CTS公司工业级的设计理念,为科研工作者及先进制程开发公司提供了一套研究级别的高端
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韩国CTS研发级CMP化学机械抛光机价格:面议
- 品牌: 韩国CTS
- 型号:AP-200
- 产地:韩国
产品简介 韩国CTS公司的AP200型CMP抛光机是一款科研级的CMP系统,采用CTS公司工业级的CMP技术,为科研工作者及先进制程开发公司提供了一套
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- 品牌: 德国SENTRONICS
- 型号:SemDex A
- 产地:德国
产品简介:SemDex A型全自动晶圆厚度测量系统是德国SENTRONICS公司一款高性能的半导体用全自动晶圆厚度测量系统,该系统集成了红外光谱干涉测量技术,光学干涉技术及光学反射技术的测量探头,广
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- 品牌: 德国SENTRONICS
- 型号:SemDex M2
- 产地:德国
品简介:SemDex M2型晶圆厚度测量系统是德国SENTRONICS半导体公司一款高性能的模块化晶圆厚度测量系统,该系统可集成红外光谱干涉测量技术,光学干涉技术及光学反射技术探头,广泛用于半导体Wa
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- 品牌: 德国SENTRONICS
- 型号:SemDex M1
- 产地:德国
品简介:SemDex M1型晶圆厚度测量系统是德国SENTRONICS半导体公司一款高性能的半自动晶圆厚度测量系统,该系统可集成红外光谱干涉测量技术,光学干涉技术及光学反射技术探头,广泛用于半导体Wa
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Park NX-Wafer晶圆原子力显微镜价格:面议
- 品牌: 韩国Park Systems
- 型号:NX-Wafer
- 产地:韩国
自动化工业级原子力显微镜,带来线上晶片检查和测量Park Systems推出业内超低噪声的全自动化工业级原子力显微镜——XE-Wafer。该自动化原子力显微镜系统旨在为全天候生产线上的亚米级晶体(尺
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Park FX40全自动原子力显微镜价格:面议
- 品牌: 韩国Park Systems
- 型号:FX40
- 产地:韩国
Park FX40纳米科学研发界应运而生的的新型全自动原子力显微镜该产品可以通过多样化的应用程序,不费吹灰之力即可获得敏锐、清晰、高分辨率的扫描图像。通过前所未有的速度和精度,推动您研发进步并助力您
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Park NX-Hivac高真空原子力显微镜价格:面议
- 品牌: 韩国Park Systems
- 型号:NX-Hivac
- 产地:韩国
用于故障分析与气氛敏感材料研究的高真空原子力显微镜Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比,高真空测量
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Park NX20大样品原子力显微镜价格:面议
- 品牌: 韩国Park Systems
- 型号:NX20
- 产地:韩国
作为一位失效分析工程师,您的任务是提供结果。而仪器所提供的数据不能允许任何错误的存在。Park NX20这台大型样品原子力显微镜,凭借着出色的数据准确性,在半导体和硬盘行业中大受赞扬。Park NX
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Park NX10科研级原子力显微镜价格:面议
- 品牌: 韩国Park Systems
- 型号:NX10
- 产地:韩国
Park NX10为您带来纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有 。无论是样品设定、全扫描成像还是测量与分析,Park NX10都能在每一步为您节约时间,让您可以更加专注于创新研究工作。Park
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