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日立台式电镜 TM4000/TM4000PlusⅡ
品牌:日立
型号:TM4000/TM4000PlusⅡ
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纳克微束高分辨场发射扫描电镜 FE-1050系列
品牌:纳克微束
型号:FE-1050系列
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快速定量阴极荧光 CL-SEM系统 Allalin
- 品牌:瑞士attolight
- 型号: Allalin
- 产地:瑞士
Allalin是一种纳米分辨率光谱仪器,基于一种被称为定量阴极荧光的突破性技术,它将光学显微镜和扫描 电子显微镜(SEM)集成到一个系统中。Allalin允许“不折不扣”的大视场/快速扫描同时获得扫描电镜成像 与高光谱或全色CL图。该系统的构建是为了在不牺牲扫描电镜(SEM)性能的前提下获得ZJ的阴极荧光 性能:光学显微镜和扫描电镜的物镜被周密的整合在一起,使它们的焦平面相互匹配;光学显微镜以亚微 米精度加工,与传统的CL技术相比,具有高数值孔径(N.A.0.71)的消色差、高数值孔径(N.A.0.71)检 测,在大视场(高达300µm)下具有优\越的光子收集效率。因此,定量阴极荧光,其中与仪器相关的工件 可以从本质上排除作为光谱特征或对比度的原因,这使阴极荧光首\次变的可信。
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Säntis 300全晶圆工业阴极荧光CL-SEM系统
- 品牌:瑞士attolight
- 型号: Säntis 300
- 产地:瑞士
Attolight定量CL-SEM系统提供 “不折不扣”大视场快速扫描的同时获取SEM图像、高光谱CL图像和光学光谱。较小直径的晶圆,或形状混杂的衬底被手动加载到300mm的中间感受器上,然后仪器自动处理。 Säntis 300全晶圆工业CL-SEM系统是全晶圆阴极发光显微镜,可以完全自动化控制150、200和300毫米晶圆。
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皮秒时间分辨阴极荧光 CL-SEM系统 Chronos
- 品牌:瑞士attolight
- 型号: Chronos
- 产地:瑞士
Chronos是为需要获得纳米空间和皮秒时间分辨率的动态光谱信息的研究人员而设计 的。 Chronos配备了一套全\面的超\快探测器,可覆盖紫外到红外的波长范围,并为用户的 应用优化性能。Chronos的多功能设计也使其能够执行诸如泵浦/探针光谱和动态SEM 等先\进方法。
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二手日本电子扫描电镜SEM,热场发射
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-7001F
- 产地:日本
技术参数: 1.分辨率:1.2nm(30kV)/3.0nm(1kV) 2.加速电压:0.2KV-30kV 3.放大倍数:10-100万倍 4.大束流高分辨5nA,WD10mm,15kV时分辨率3.0nm 5.束流强度:1pA到200nA(15KV) 主要特点: 1.浸没式热场发射电子枪,束流强度zui大200nA(15KV) 2.无漏磁物镜设计,便于磁性样品观测和EBSP观测不变形 3.自动光阑角控制器,无需调整光阑 4.全自动控制聚焦、合轴、消像散、控制扫描速度 5.适于配合多种分析性探头
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二手日立S-4300场发射电镜 ,二手扫描电镜SEM,冷场发射电镜
- 品牌:日立
- 型号: S-4300
- 产地:日本
二手日立S-4300场发射电镜设计具有以下特点: 1) 高亮度光源肖特基场发射扫描电子显微镜 2) 高探针电流 3) 长、短程电子束稳定 4) 高分辨率 S-4300SE可以与多种附件相结合,如阴J发光(CL),背反射电子衍射图形(EBSP),X-射线能谱(EDX),电子描画(EB)。
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二手扫描电镜SEM,二手日立钨灯丝电镜,二手电镜
- 品牌:日立
- 型号: S-3400
- 产地:日本
产品介绍 项目 描述 SE分辨率 3.0nm (30kV),高真空模式 / 10nm (3kV), 高真空模式 BSE分辨率 4.0nm (30kV),低真空模式 放大倍率 x5 ~ x300,000 加速电压 0.3 ~ 30 kV 低真空范围 6 ~ 270 Pa zui大样品尺寸 直径200mm 样品台 I型 II型 X 0 ~ 80mm 0 ~ 100mm Y 0 ~ 40mm 0 ~ 50mm Z 5 ~ 35mm 5 ~ 65mm R 360o 360o T -20o~ +90o -20o ~ +90o T -20o~ +90o -20o ~ +90o zui大样品高度 35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm) 驱动类型 手动 五轴马达驱动 灯丝 预对中钨灯丝 物镜光栏 可移动式4孔物镜光栏 枪偏压 固定比例偏压、手动偏压和自动4偏 检测器 二次电子检测器 高灵敏度半导体背散射电子检测器 分析位置 WD=10mm, TOA=35o 控制 鼠标、键盘,手动旋钮 自动调校 自动灯丝饱和、自动4偏压、自动枪对中、自动束流设定、自动合轴、自动聚焦 消像散、自动亮度对比度 详细说明 1. S-3400N具有强大的自动功能,包括自动灯丝饱和、4偏压、自动枪对中、自动束流设定、 自动合轴自动聚焦和消像散、自动亮度对比度等。 2. 在3kV低加速电压时保证有10nm的分辨率。 3. 新型5分割高灵敏半导体式背散射探头。 4. S-3400N II型具有五轴马达台,倾斜角度可达-20度~+90度,样品zui高可达80mm。 5. 分析样品仓可以同时安装EDX , WDX 及EBSD。 6. 真空系统使用涡轮分子泵,洁净、高效
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TESCAN SOLARIS 超高分辨氙离子源双束聚焦扫描电镜(FIB-SEM)
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: SOLARIS
- 产地:捷克
大尺寸试样进行高效率制备和高分辨表征的解决方案 TESCAN SOLARIS X 是半导体和材料表征中最具挑战性的物理失效分析应用的平台,具有极高的精度和极高的效率。 TESCAN SOLARIS X 提供了纳米尺寸结构分析所必需的高分辨率和表面灵敏度,为大体积 3D 样品特性分析提供了最佳条件。同时,它还提供无与伦比的 FIB 功能,可实现精确、无损的超大面积加工,包括封装技术和光电器件的横截面加工。 当今半导体器件的物理故障分析已经成为一项极其复杂的任务,需要处理越来越小的具有更高密度和更高功能的器件。一般来说,随着新纳米技术和纳米材料的发展以及集成电路的设计和体系结构的日益复杂,这就需要高度可靠的分析平台,以跟上集成电路、光电器件的发展。TESCAN SOLARIS X 是一个强大的 FIB-SEM 平台,专门设计来应对这样的挑战。新一代 Triglav™ 镜筒的探测器系统具有优异的表面灵敏度和出色的对比度;另一方面,新的 iFIB+™ 离子镜筒进一步的扩大了 Xe 等离子 FIB 应用领域,提升了大体积样本微加工和 3D 微量分析的能力,并且缩短了加工时间。
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TESCAN SOLARIS 超高分辨双束聚焦扫描电镜(FIB-SEM)
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: SOLARIS
- 产地:捷克
TESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统,适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务,这些任务要求设备具有最佳的分辨率、最先进的离子光学系统和最好的纳米加工能力。TESCAN SOLARIS 的 Triglav™ 型 SEM 镜筒具有超高的分辨率,特别是在低电压下;镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力,为获得更好的图像衬度和表面灵敏度翻开了全新的篇章。TESCAN SOLARIS 的 Orage™ 型 FIB 镜筒提供不仅为纳米加工提供了最佳的精度,还具备很高的离子束流,因此可以满足大体积加工和分析的需求。 出色的低电压离子束分辨率和性能使得 TESCAN SOLARIS 有能力制备小于 20 nm 的、半导体器件最佳质量的超薄 TEM 样品。此外,高达 100 nA 的大离子束流可以对生物样品和材料进行指定位置的、大体积 FIB-SEM 逐层扫描,图像也具有出色的衬度。TESCAN SOLARIS 使用了全新的 Essence™ 软件,软件用户界面友好,可以满足各类应用需求,可定制的软件布局以及自动化的样品制备功能,最大限度地提升了操作便捷性和工作效率。
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TESCAN AMBER X 高分辨氙离子源双束聚焦扫描电镜(FIB-SEM)
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: AMBER X
- 产地:捷克
TESCAN AMBER X 等离子FIB和无漏磁超高分辨场发射扫描电镜的完美结合,无限扩展在材料表征领域的应用 TESCAN AMBER X 是完美结合了分析型等离子FIB和超高分辨(UHR)扫描电镜的综合分析平台,能够同时提供高效率、大面积样品刻蚀,多模态的样品表征,以及在无镓注入干扰状态下进行样品制备和改性。 TESCAN AMBER X 具备快速精确的等离子体FIB刻蚀和无漏磁超高分辨SEM成像的特性,使其成为多项研究的首选方案,例如快速制备出宽度可达1 毫米的截面; 高通量、多模态的FIB-SEM断层扫描,可快速获得三维重建图像和可视化数据; 元素化学和/或晶体取向研究; 无注入离子干扰状态下制备出微米和纳米结构,以便通过其它分析方法进行后续测试或表征等。
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TESCAN AMBER 高分辨率双束聚焦扫描电镜系统(FIB-SEM)
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: AMBER
- 产地:捷克
TESCAN AMBER 是一款双束(FIB-SEM)聚焦扫描电镜系统系统,可以满足现今工业研发和学术界研究的所有需求,在提供无与伦比的图像质量的同时,可完成复杂的纳米操作并保证极佳的精度和操作灵活性。 TESCAN AMBER 配置了最新的 BrightBeam™ 镜筒,真正的无磁场超高分辨(UHR)可以最大化的实现各种分析,包括磁性样品的分析,以及在 FIB 操作时 SEM 的实时监测。另一方面,创新的 Orage™ FIB 镜筒配有最先进的离子光学系统和气体注入系统,使得 TESCAN AM BER 成为了世界顶级的样品制备和纳米加工的仪器。 模块化、基于工作流的软件确保了在所有应用中都能最大程度进行操控,不需要在复杂的技术之间进行取舍,用户界面友好。因而 TESCAN AMBER 是高端FIB-SEM应用的理想选择,也是所有追求日常科学和技术突破的人士的首选分析平台。
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TESCAN超高分辨率场发射电镜MAGNA
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: MAGNA
- 产地:捷克
在低电压下具有极佳的分辨率和优异的性能,尤为适用于纳米表征。 TESCAN MAGNA 是一款功能极其强大的分析仪器,可用于表征纳米材料的表面以及进行微观分析。 TESCAN MAGNA采用 Triglav™ 型 SEM 镜筒,具有超高的分辨率,在低电压下尤为明显;镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力,可以获得更好的图像衬度和表面灵敏度。此外, TESCAN MAGNA 配备肖特基场发射电子枪,能够提供高达 400 nA 的束流,同时 Triglav™型 SEM 镜筒所具备的出色性能和高稳定性,为微分析和长耗时样品的分析应用提供了最佳条件。 TESCAN MAGNA 低电压下的优异性能和所能获得的各种图像衬度,使得它非常适用于不导电样品的成像,如陶瓷、无涂层生物样品,以及在半导体工业和新材料研究中应用越来越普遍的光敏样品。 TESCAN MAGNA 使用了全新的 TESCAN Essence™ 软件,用户界面友好,可以满足各类应用需求,可定制的布局以及自动化的样品制备功能,最大限度地提升了操作便捷性和工作效率。
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TESCAN 超高分辨场发射扫描电子显微镜CLARA
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: CLARA
- 产地:捷克
CLARA 是一款应用广泛的多功能扫描电子显微镜,是基于成功的S8000 基础上进一步研发的,其设计更能满足材料科学的需求,适用于对各种不同类型材料的分析和表征。 CLARA 的分辨率可以达到亚纳米级别,能够揭示材料最细微的结构。 TESCAN 独特的 Wide Field Opticls™ 技术帮助您在大视野下全方面了解样品的构成(最小放大倍数可至2倍),从而快速定位感兴趣的区域。 TESCAN CLARA 在低电压下仍保持了出色的分辨率,因而不仅适用于样品极表面进行形貌观察,同时也是表征光敏样品和非导电样品的理想选择。 TESCAN CLARA ,不仅在低电压下拥有极佳的分辨率,而且能够通过选择二次电子和背散射电子的不同衬度,来探索样品可能包含的大量信息,因而是分析测试中心或材料科学研究实验室的最佳选择。 新一代的电子光学和成像技术使 CLARA 成为任何分析测试中心,材料表征实验室或工业检测实验室必不可少的设备。直观,模块化的用户界面可根据每个操作员的需求进行定制,可以有效的提高工作效率。预设程序和最佳成像条件可以帮助新手用户轻松获得高质量的图像,并尽可能协助其完成能力范围内可操作的高端功能。
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TESCAN集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM)
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TIMA-X FEG(LM)
- 产地:捷克
TIMA3 LMU/LMH FEG是一款基于场发射扫描电子显微镜设计的集成式矿物分析专家,适用于采矿和矿物处理行业的应用。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统,能以非常快的速度执行全谱扫描,可用于矿石特性检测、工艺优化、修复技术和贵金属与稀土的寻找。SEM和EDX硬件的集成水平实现了以前所未有的采集速度完全自动化的数据采集,并得到快速、准确和可靠的结果。
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TESCAN场发射扫描电镜MIRA3系列
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: MIRA3系列
- 产地:捷克
TESCAN MIRA 是 TESCAN 推出的第四代高性能扫描电子显微镜,配置有高亮度肖特基场发射电子枪,在TESCAN 的 Essence™ 操作软件的同一个窗口中实现了 SEM 成像和实时元素分析。这种结合大大简化了从样品中获取形貌和元素数据的过程,从而使得MIRA 成为质量控制、失效分析和实验室常规材料检测的有效分析解决方案。 TESCAN MIRA 具有创新的光学设计,确保在需要时可以随时无缝地选择成像或分析条件,而无需对镜筒内的任何元件重新进行机械对中;借助完全集成的 Essence™ EDS 软件,可以快速、轻松地从成像切换到分析操作模式,一键即可实现所有设置参数的更改。
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TESCAN钨灯丝扫描电镜VEGA
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: VEGA
- 产地:捷克
TESCAN VEGA 第四代钨灯丝扫描电子显微镜,采用全新的 Essence™ 电镜操控软件系统,将扫描形貌图像与元素实时分析集成于同一个扫描窗口中。这种组合大大简化了样品表面形貌的采集及所含元素的数据分析工作,使得全新的第四代 VEGA SEM 成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料等检测提供更高效的分析的解决方案。 TESCAN VEGA 采用创新的电子光学设计,确保在需要时即时、无缝地选择成像或分析条件,无需对任何电子光学镜筒内的元件进行机械对中。可以配置真空缓冲节能单元,使用后可显著缩短机械泵的运行时间,从而达到节能、环保的要求。
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TESCAN钨灯丝扫描电镜 VEGA COMPACT
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: VEGA COMPACT
- 产地:捷克
ESCAN VEGA COMPACT 秉承了前一代 VEGA 系列电镜的优异性能,是一款入门级,但是功能强大的分析型钨灯丝扫描电镜。紧凑简约的配置、优化的成像能力以及集成的元素成分分析功能,VEGA COMPACT 为研究常规材料的实验室提供一个高性价比的解决方案。VEGA COMPACT 采用了最新的 Essence™ 电镜控制软件,使得扫描电镜成像和成分实时分析能够集成在同一个窗口中实现。这种结合大大简化了获取样品形貌信息和成分数据的过程,使得 VEGA COMPACT 以其高效率、低成本成为实验室常规材料检测、质量控制、失效分析以及实验室研究行之有效的分析解决方案。
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KYKY-EM8100场发射枪扫描电子显微镜
- 品牌:北京中科科仪
- 型号: KYKY-EM8100
- 产地:海淀区
1. Schottky肖特基场发射电子枪亮度高、单色性好、电子束斑小,寿命长 2. 采用电子束加速镜筒,确保低压下卓越的成像性能 3. 束流稳定度高、色散小,适宜于长时间的各种精确分析,如CL、EDS、EBSD 4. 低加速电压不导电样品可以直接观测,无需喷金 5. 操作简便,仅用鼠标即可完成所有的电镜操作 6. 超大样品仓室,满足不同客户的观测需求
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KYKY-EM6900LV低真空钨灯丝扫描电子显微镜
- 品牌:北京中科科仪
- 型号: KYKY-EM6900LV
- 产地:海淀区
1. 具备低真空功能 2. 分辨率高,成像质量好 3. 翻开式预对中钨丝阴极 4. 中英文操作界面,具有一键成像功能
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JCM-7000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JCM-7000 NeoScope™
- 产地:日本
JCM-7000是日本电子新推出的一款台式扫描电子显微镜。其不仅继承了日本电子大型电镜强大的功能,相对于大型扫描电镜,其自动化程度高,操作简单便捷,维护保养容易,体积小巧,价格低廉,检测速度快,从启动装填样品到测试出结果仅需5分钟左右。JCM-7000还创新的加入了实时能谱分析和实时3D显示的功能,更高xiao便捷的服务于您的研究和工作。
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赛默飞扫描电子显微镜Prisma E
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Prisma E
- 产地:美国
高性能的钨灯丝扫描电子显微镜,高达一百万倍的放大倍数,呈现一个精彩无比的微观世界,在电子,材料,微生物等领域有着杰出的表现。
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IXRF喷碳仪VC-100
- 品牌:日立
- 型号: VC-100
- 产地:日本
IXRF喷碳仪VC-100是专为电镜设计的喷镀仪器,可以替代传统的真空蒸镀装置。主要特点:1.用普通的自动笔芯就可作为蒸镀碳的原材料;2.每次使用一根铅笔芯,操作简单,重现性好;3.可用于碳强化或制作支持膜,可以制作碳复型膜;4.可在自动铅笔芯缠绕Pt线做Pt/C的蒸镀或直接向SEM样品蒸镀Pt。 应用领域:1.对样品进行蒸碳,实现不导电样品的能谱仪元素定性和半定量分析;2.对样品进行蒸镀Pt/C或直接蒸镀Pt等金属;3.用于TEM样品的阴影;4.做TEM表面复型样品。
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日本电子JSM-IT200扫描电镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-IT200
- 产地:日本
JEOL InTouchScope™系列的新机型JSM-IT200 钨灯丝扫描电镜是日本电子株式会社在2018 年将在全球同步推出的全新数字化扫描电镜,其性能优异、自动化程度高、操控界面人性化及稳定性zui高的扫描电镜,可广泛的应用于各个领域。
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日立扫描电镜/扫描电子显微镜TM4000
- 品牌:日立
- 型号: TM4000
- 产地:日本
“TM4000”和“TM4000Plus”可简化从样品观察、图像确认到生成报告等一系列操作过程,大幅提高了工作效率。还标配了报告生成功能,观察结束后可十分轻松地将拍摄的图像制作成Microsoft®Word®、Excel®、PowerPoint®格式的报告。此外,选配项还可实现更多功能。可在样品仓内加装光学相机来拍摄照片,以往通过经验寻找目标位置*1,现在可在显示屏上直接操作。在拍摄SEM图像时,由于“TM4000”和“TM4000Plus”配置双轴马达台*2,原来需手动调整的操作,现在只需在显示器上选择要观察的位置即可。
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TM3030台式扫描电镜
- 品牌:日立
- 型号: 3030
- 产地:日本
TM3030台式扫描电镜 2013年5月7日,日立高新技术公司推出台式扫描电镜TM3030。 日立高新生产和销售的电子显微镜广泛用于各行业的研究和开发、质量管理等,包括纳米技术和生物技术领域。台式显微镜目前在全世界范围内广泛使用,主要应用领域包括私营企业、政府机关、科学博物馆、以及教育机构如大学、学院、小学和初中学校。台式电子显微镜既具备电子显微镜的高分辨观察功能,
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钨灯丝扫描电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-IT100
- 产地:日本
JSM-IT100钨灯丝扫描电镜,是日本电子株式会社在2015年9月推出的新型号数字化扫描电镜。是近几年销售名列前茅并深受好评的JSM-6000系列钨灯丝扫描电镜的升级产品,并保留了JSM-6000系列良好的操作界面和出色稳定的控制系统,操作更加简单,堪称世界上zuixianjin的钨灯丝扫描电子显微镜。主要特点为全数字化控制系统,高分辨率、高精度的变焦聚光镜系统、全对中样品台及高灵敏度半导体背散射探头;用于各种材料的形貌组织观察、金属材料断口分析和失效分析。该型号在很多大学、研究院所及制造业被广泛使用。
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大气压扫描电镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JASM-6200
- 产地:日本
设计亮点 1. 大气压下对样品直接观察 2.样品无需任何处理,真正的原貌观察 3.特别适用领域:生物样品、水泥、含油样品等
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桌面型SEM(6万倍)(二次电子/背散射成像)
- 品牌:美国SEC
- 型号: SNE-3200M
- 产地:韩国
■技术参数 - 放大倍率:100x ~ 60,000x - 加速电压:5 ~ 30kV (5/10/15/20/30kV - 5 step) ■图像 二次电子图像(SEI) 背散射电子图像(BSEI) ■规格 - 样品移动距离 : X: 20mm, Y: 20mm, Rotation : 360° - 最大样品尺寸: 直径50mm -最大样品厚度: 20mm ■系统结构
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日立高新高画质的钨灯丝扫描电镜SU3500
- 品牌:日立
- 型号: SU3500
- 产地:日本
新品详情 上市时间:2012年11月 创新点:高画质的钨灯丝扫描电镜,图象质量更进一步。 通过高画质提升扫描电镜的分析能力和操作性,凝聚日立zuixianjin科技“独具匠心”。 SU3500钨灯丝扫描电镜具有实现了“3kV加速电压7nm分辨率”的全新电子光学系统,可实现实时立体成像的“实时立体观察功能”*1,以及更高检测效率的“UVD超高灵敏度可变压力检测器”*1。 它为观察和分析提出了崭新的标准。 详细
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日立SU1510扫描电子显微镜
- 品牌:日立
- 型号: SU1510
- 产地:日本
结构紧凑,性能高 与现有型号相比,减少了20%的体积。 标配可变压力模式。 保证30 kV电压时,二次电子3.0 nm的分辨率, 背散射电子4.0 nm(6帕) 可满足直径153 mm,高60 mm的样品 采用TMP真空系统,节省占地面积和电源功耗。
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日立场发射扫描电镜SU8010
- 品牌:日立
- 型号: SU8010
- 产地:日本
超高分辨率SU-8000系列,满足客户对SEM之不同需求。特长低加速电压下超高分辨率观察(二次电子解析度1.3nm/1.0kV)新增Topper Detector利于最表面情报之观察 可提供多重讯号输出全机种共通GUI操作界面 24.1英寸的显示器让操作环境更加舒适强大的扩展空间,多种附件可满足日后升级需要四孔可移动光栅片供客户选择
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HITACHI FlexSEM 1000
- 品牌:日立
- 型号: FlexSEM1000
- 产地:日本
低真空可描式子微 FlexSEM 1000 Scanning Electron Microscope FlexSEM 1000 精的安空, 也可分解安於一般桌面全新自子位校正功能,自行全新的低像差子光系,提升量及解析度高速PD-BSE 器,可於快速描模式下察BSE影像全新直式人介面,搭配 “SEM MAP “ 光航功能Windows 10 作系可搭EDS系 (OXFOR X-act / EDAX ELEMENT相容)The FlexSEM 1000 is a compact variable-pressu
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日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000
- 品牌:日立
- 型号: SU5000
- 产地:日本
日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面,向所有用户提供高画质图像--日立高新技术公司(以下简称:日立高新)8月4日开始发售的肖特基式场发射扫描电子显微镜"SU5000",搭载了全新的用户界面和"EM Wizard",无论用户的操作技巧是否娴熟都可以拍出好的照片。扫描电子显微镜在纳米技术领域、材料领域、医学生物等领域均被广泛使用。但随着近年来仪器性能的大幅提升,以及用户群体的不断扩大,使得用户对不需要任何经验和技术就能得到好照片的需求迅速扩增。而且,由于观察对象的样品的不断多样化,对样
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日立高新台式显微镜TM3030Plus
- 品牌:日立
- 型号: TM 3030plus
- 产地:日本
2014年8月4日,日立高新推出新款台式电镜TM3030Plus。TM3030Plus配置了高灵敏度的探测器,可以在低真空状态下观察二次电子图像,并且无需样品制备即可进行实时二次电子成像。 日立高新在2005年4月推出了世界上首台台式电子显微镜,使得电镜的使用更加友好简便。台式电镜紧凑的尺寸和稳定性更适用于复杂的实验室环境,并扩展了电镜的整体可用性,这种桌面型设计永远的改变了电镜的应用范围。目前,世界各地都在使用台式电镜,主要是私营企业、政府机构、科技博物馆以及从小学、初中到大学的教育机构。至2014年
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日立高新场发射扫描电子显微镜SU8200系列
- 品牌:日立
- 型号: SU8200
- 产地:日本
日立高新场发射扫描电子显微镜SU8200系列(HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series,SU8220,SU8230,SU8240)采用日立高新技术公司全新开发的冷场电子枪,实现超高分辨率下观察的同时,稳定的束流亦可满足长时间下的分析需求。在日立高新的新型冷场发射扫描电镜(FE-SEM)SU8200系列中,有SU8220、SU8230、SU8240三款机型,于5月20日开始发售。 【主要特点】 日立高新新研发的冷场电子枪 ?利用电子枪轰击后的高亮度稳定期,高分辨观察和分析兼顾
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日本电子JSM-7610F热场发射扫描电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-7610F
- 产地:日本
分辨率: 1.3 nm(1 kV)(在GB 模式下),1.0 nm(15 kV) 放大倍数: 25 到 1,000,000x 加速电压: 0.1 到 30 kV 束流: 1 pA 到 200 nA(15 kV时) 光阑角控制镜: 内置 探测器: 上方和下方探测器 能量过滤器: 新型γ过滤器 柔和光束: 内置 数字图像: 1,280 x 960,2,560 x 1,920, 5,120 x 3,840 样品交换室: 单步加载/卸载 样品台: 全对中,5轴马达驱动 X-Y: 70 mm x 50 mm(IA)
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热场发射扫描电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-7001F
- 产地:日本
JSM-7001F热场发射扫描电子显微镜(Thermal Field Emission SEM),是能够满足与高分辨率和易用性同样的分析应用需求的理想平台。JSM-7001F具有大型、5轴、全对中马达驱动自动化样品台,还有单动作样品更换气锁、它的小束口压直径,即使在大电流和低电压时,也具有适用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想结构的扩充性。样品室可处理直径最大为 200mm的样品。 计算机接口是新的Windows XP系统,操作简单,具有快速简单地切换操作模式的功能键。最多可同时查看包括混
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[公开招标]预算690万元 石河子大学采购扫描电镜能谱一体机
石河子大学公开招标扫描电镜能谱一体机、高效液相色谱,zeta电位粒径分子量测仪,在线质谱气体分析系统、分子精馏装置,硅基催化剂在线生成与评价装置,项目编号:XJBTBJ[2024]822号、XJBTBJ[2024]830号
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[公开招标]预算280万元 中南民族大学采购激光片层扫描显微镜
中南民族大学公开招标激光片层扫描显微镜,项目编号:FZHB-0432403-017
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[公开招标]预算1848万元 江西省土壤肥料与资环所采购稳定同位素比质谱仪
江西省农业科学院土壤肥料与资源环境研究所公开招标稳定同位素比质谱仪、多功能酶标仪,气相色谱三重四极杆质谱联用仪,电感耦合等离子体发射光谱仪,扫描电子显微镜、X荧光重金属分析仪,自动微生物鉴定分析系统、微波消解仪,四极杆飞行时间液质联用仪,项目编号:JXBJ24121308301
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