日本电子/JEOL

JED-2300/2300F 能谱仪，是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用，可以进行大范围的观察和分析。 EDS通过检测被电子束激发出的样品...

Serial Block-face SEM 3View 发射扫描电子显微镜，肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与3View®2XP（Gatan公司制造）结合使用，能对样品...

JEOL热场发射扫描电子显微镜JSM-7900F ，它继承了上一代广获好评的性能如极高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等的同时，操作性能极大简单化。该设备不依赖操作者的技能，始终能够发挥其最佳性能。

日本JEOL 扫描电子显微镜JSM-IT500HR ，采用了新开发的高亮度电子枪和透镜系统，因而能获得令人惊叹的高画质图像。即使对实时图像，也能轻松地在CCD图像上从寻找视野迅速过渡到高倍率（×100...

JSM-IT200 InTouchScope 扫描电子显微镜，是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。

JEOL台式扫描电子显微镜JCM-7000 NeoScope，是以"谁都可以操作的SEM/EDS"为理念的台式扫描电子显微镜， 标配Zeromag、Live analysis、 L...

日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜，实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，最高加速电压可达300kV，是一款...

JEM-F200 场发射透射电子显微镜，以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计...

日本电子JEOL透射电子显微镜 JEM-2100Plus ，不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统，还增加了最新的控制系统，大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性...

JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了最高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。

日本电子JEOL 断层扫描系统EM-05500TGP TEM，采用独特算法的软件，实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。

JEOL能谱仪 JED-2300T 能谱仪是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中，自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数，进行数据管理。是以“图像观察和分析”为...

JEM-1400Flash 透射电子显微镜配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子显微镜。

JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜，标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合，进一步提高了生物...

JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜, 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压...

JEOL场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统，能够在冷冻低温下观察生...