半导体微纳检测仪

日本电子JEOL透射电子显微镜 JEM-2100Plus ，不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统，还增加了最新的控制系统，大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性...

JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了最高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。

日本电子JEOL 断层扫描系统EM-05500TGP TEM，采用独特算法的软件，实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。

JEOL能谱仪 JED-2300T 能谱仪是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中，自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数，进行数据管理。是以“图像观察和分析”为...

JEM-1400Flash 透射电子显微镜配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子显微镜。

JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜，标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合，进一步提高了生物...

JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜, 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压...

JEOL场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统，能够在冷冻低温下观察生...

JEM-1000 超高压透射电子显微镜，由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短，即使增大物镜极靴之间的间隙，也能获得高分辨率的图像。此外，电子束具有很强的穿透能力，即使厚样品也能观察到清晰...

JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪, 在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。

美国KLA InSEM HT原位高温纳米力学测试系统，纳米压痕仪，样品加温可达800 ℃，样品尺寸可达10MM，装样系统与真空环境兼容

KEYENCE 基恩士 形状测量激光显微系统全新 VK-X3000，纳米 / 微米 / 毫米，一台即可完成测量。292 种分析工具，一台即可了解希望获取的信息。一台即包含了光学显微镜，台阶仪，光学轮廓...

德国Leica EM TXP全新精研一体机，是一款独特的可对目标区域进行精确定位的表面处理工具，特别适合于SEM，TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要...

布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性高达 5Å。第十代 DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，实现了纳米尺度的表面轮...

ContourX-200 三维光学轮廓仪，灵活的台式表面形貌测量设备

布鲁克Bruker白光干涉光学轮廓仪 Contour X, 满足微纳米表面测量需要