半导体微纳检测仪

KSI V400E 单探头多用途超声波扫描显微镜, 扫描速度zui高可达：1000mm/s 或 2000mm/s，两种规格可选, zuida扫描范围：400mm×400mm 或 400mm x 800...

KSI v700E 单探头超声波扫描显微镜,zuida扫描速度：2000 mm/s,zuida扫描范围：700mm×400mm,zui小扫描范围：200μm×200μm

KSI V-quattro四探头超声波扫描显微镜系统，四探头系统，同时使用4只换能器

KSI V-duo 双探头超声波扫描显微镜系统，同时使用2只换能器。

KSI V-duo 双探头超声波扫描显微镜系统，同时使用2只换能器。

KSI－Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统，声学显微成像系统和光学显微成像系统的wan美结合

KSI－ 凯斯安 i-Ingot型全自动晶锭分析检测系统,适用于对晶锭的无损检测，有了它，晶锭内部的裂缝或杂质就能得到快速检测，晶锭的尺寸可达450mm，检测时间短，也不需要做其它设定。除此之外，新的...

德国KSI-凯斯安 i-Wafer型全自动晶圆超声波缺陷检测系统，i-Wafer系列是一款高端仪器，操作人员可选择接收/拒绝标准，手动或自动检测晶圆。在KSI i-Wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分...

静态和动态都可测量； 非接触式测量，可测液体环境下的物质，且静态和动态都可测量； 不需要特别的反射率，对于几乎透明的材料都能获得很好的测量结果，如SU8胶； 可专门针对研究纳米机械传感器，如悬臂...

只需按下一个按钮，您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 。

高分辨率下，扫描速度是传统超声波扫描显微镜的2.5倍； 独有的波形模拟器(Waveform Simulator)及波束仿真(Beam Emulator)； 扫描分辨率小于1微米； 水温控制系统及...

美国NANOVEA HS1000型三维表面形貌仪，是一款高速的三维形貌仪，zui 高扫描速度可达1m/s,采用国际领xian的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度...

RTI 开发的MT Century Curve Tracer是一个性价比较高的曲线追踪设备。MT Century Curve Tracer测试设备，zui多到96个channel，提供4种型号可供客戶...

广受赞誉的高速测试选项可以和所有G200 型纳米压痕仪配合使用, 包括DCMII 和 XP 模块以及样品台； 快速进行面积函数和框架刚度校对； 精确和可重复的结果, 完全符合ISO14577 标准...

· 同时监测3个固定通道的粒径和粒子数 · 粒径灵敏度为0.3、0.5、5.0微米 · 样本流量为0.1立方英尺/分钟（2.83 L/分钟） · 泵的噪音极小，流量控制 · 电...

纳米级三维测量仪(3D Nanofinger)俗称纳米三坐标，是一种实用的纳米精度坐标和形貌综合测量设备。由台架、控制系统、探头、针尖组成. 可测量样品外形尺寸，表面轮廓、粗糙度等，并可与超精密微加工...